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Dado oficial do INPI

SISTEMAS E MÉTODOS PARA CONTROLAR O NIVELAMENTO DE UM SUBSTRATO DE METAL COM LAMINAÇÃO DE BAIXA PRESSÃO

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · US2018043049

Dados do pedido

Número

112020001010

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

20/07/2018

Publicação

15/09/2020

PCT

US2018043049

Andamento no INPI

  1. Depósito20/07/18
  2. Publicação15/09/20
  3. Exame
  4. Deferimento06/02/24
  5. Concessão24/04/24
  6. Em vigor20/07/38

Patente concedida em 24/04/2024 e em vigor até 20/07/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:20/07/2038

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Depositantes e inventores

Depositantes

NOVELIS INC.

US

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Inventores

A. H. (pessoa física)

CA

D. G. (pessoa física)

US

J. G. (pessoa física)

US

M. S. (pessoa física)

US

S. M. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

62/535,341 · 21/07/2017

US

62/535,345 · 21/07/2017

US

62/535,349 · 21/07/2017

US

62/551,292 · 29/08/2017

US

62/551,296 · 29/08/2017

US

62/551,298 · 29/08/2017

Resumo técnico

A presente invenção refere-se a um sistema de controle de nivelamento que inclui um suporte de trabalho de uma linha de acabamento, uma pluralidade de atuadores, um dispositivo de medição de nivelamento e um controlador. O suporte de trabalho inclui um par de rolos de trabalho alinhados verticalmente. Um primeiro rolo de trabalho do par de rolos de trabalho inclui uma pluralidade de zonas de controle de nivelamento configuradas para aplicar uma pressão localizada a uma região correspondente em um substrato. Cada atuador corresponde a uma dentre a pluralidade de zonas de controle de nivelamento. O dispositivo de medição de nivelamento está configurado para medir um perfil de nivelamento real do substrato. O controlador está configurado para ajustar a pluralidade de atuadores de modo que as pressões localizadas modifiquem o perfil de nivelamento real para atingir o perfil de nivelamento desejado na saída do suporte. A espessura e o comprimento do substrato permanecem substancialmente constantes quando o substrato sai do suporte de trabalho.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/07/2018, observadas as condições legais

24/04/2024

RPI 2781

Deferimento

#9.1

06/02/2024

RPI 2770

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

07/11/2023

RPI 2757

Parecer de pré-exame

#6.23

13/09/2022

RPI 2697

Adição na publicação

#15.35

23/11/2021

RPI 2655

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

15/09/2020

RPI 2593

Exigências diversas

#1.5

É necessário apresentar cessão das prioridades reivindicadas com as seguintes assinaturas:. 62/535,341 - Mehdi Shafiei; John A. Hunter; Peter Knelsen. 62/535,345 - Mehdi Shafiei, Andrew Hobbis; David Anthony Gaensbauer. 62/535,349 - Mehdi Shafiei; David Anthony Gaensbauer; Jeffrey Geho. 62/551,292 - Mehdi Shafiei; John A. Hunter; Peter Knelsen. 62/551,296 - Mehdi Shafiei; Andrew Hobbis; David Anthony Gaensbauer; Jeffrey Geho. 62/551,298 - Mehdi Shafiei; David Anthony Gaensbauer; Jeffrey Geho; Andrew Hobbis

21/07/2020

RPI 2585

Alteração de dados cadastrais

#1.1

28/01/2020

RPI 2560

Monitoramento de patentes

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