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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE ANÁLISE, DISPOSITIVO DE DATAÇÃO DE ESTRATO, MÉTODO DE ANÁLISE, MÉTODO DE DATAÇÃO DE ESTRATO E PROGRAMA

IndeferidaPatente de InvençãoPCT · JP2018018172

Dados do pedido

Número

112019023381

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

10/05/2018

Publicação

16/06/2020

PCT

JP2018018172

Andamento no INPI

Em recurso
  1. Depósito10/05/18
  2. Publicação16/06/20
  3. Exame
  4. Indeferido25/04/23
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido pelo INPI em 25/04/2023. A invenção não chegou a ser patenteada.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 25/04/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

JAPAN AGENCY FOR MARINE-EARTH SCIENCE AND TECHNOLOGY

JP

NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY

JP

N. U. (pessoa física)

JP

N. C. (pessoa física)

JP

Inventores

J. O. (pessoa física)

JP

K. T. (pessoa física)

JP

N. K. (pessoa física)

JP

T. I. (pessoa física)

JP

T. H. (pessoa física)

JP

T. Y. (pessoa física)

JP

Y. T. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Prioridades unionistas

JP

2017-094086 · 10/05/2017

Resumo técnico

A presente invenção refere-se a um dispositivo de análise (100), dotado com uma unidade de aquisição de imagens (110) e uma unidade de análise (120). A unidade de aquisição de imagens (110) obtém dados de imagens de um microfóssil em uma amostra obtida de um estrato. A unidade de análise (120) analisa, usando resultados de aprendizado por máquina, dados de imagens obtidos pela unidade de aquisição de imagens (110), e, desse modo, analisa o táxon ou a categoria do microfóssil nos dados de imagens.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Indeferimento

#9.2

25/04/2023

RPI 2729

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

10/01/2023

RPI 2714

Parecer de pré-exame

#6.23

20/09/2022

RPI 2698

Adição na publicação

#15.35

19/10/2021

RPI 2650

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

16/06/2020

RPI 2580

Alteração de dados cadastrais

#1.1

19/11/2019

RPI 2550

Monitoramento de patentes

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