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Dado oficial do INPI

MÉTODOS, SISTEMAS E APARELHOS PARA CLASSIFICAÇÃO E PROCESSAMENTO DE ANALITOS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · IB2016000405

Dados do pedido

Número

112017019260

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

10/03/2016

Publicação

02/05/2018

PCT

IB2016000405

Andamento no INPI

  1. Depósito10/03/16
  2. Publicação02/05/18
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 10/03/2016, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 24/08/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

MICROBIX BIOSYSTEMS INC.

CA

Inventores

C. A. (pessoa física)

US

D. H. (pessoa física)

US

D. Q. (pessoa física)

US

E. R. (pessoa física)

US

E. L. (pessoa física)

US

J. C. (pessoa física)

US

J. M. (pessoa física)

US

J. C. (pessoa física)

US

M. L. (pessoa física)

CA

M. M. (pessoa física)

US

R. M. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

62/130,821 · 10/03/2015

US

62/130,825 · 10/03/2015

US

62/130,957 · 10/03/2015

US

62/131,022 · 10/03/2015

US

62/131,036 · 10/03/2015

US

62/131,043 · 10/03/2015

US

62/140,173 · 30/03/2015

US

62/140,199 · 30/03/2015

US

62/140,336 · 30/03/2015

Resumo técnico

Um método de configuração de um sistema óptico para reduzir as variações nas propriedades medidas de um analito inclui selecionar um número de feixes nos quais a radiação de uma fonte de radiação deve ser dividida, em que, ao irradiar o analito a partir de uma pluralidade de direções pelo número de feixes, uma variação de uma medida resultante do analito está em ou abaixo de um limite. O método inclui adicionalmente o alinhamento da fonte de radiação e uma pluralidade de elementos ópticos acoplados opticamente à fonte de radiação, de modo que o número de feixes selecionado irradie o analito após emissão de radiação pela fonte de radiação.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Adição na publicação

#15.35

24/08/2021

RPI 2642

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

11/06/2019

RPI 2527

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

26/03/2019

RPI 2516

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

02/05/2018

RPI 2469

Alteração de dados cadastrais

#1.1

19/09/2017

RPI 2437

Monitoramento de patentes

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