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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE ESTIMATIVA DE REGIÃO DE GERAÇÃO DE DEFEITO DE FORMATO DE SUPERFÍCIE, MÉTODO DE ESTIMATIVA DE REGIÃO DE FONTE DE DEFEITO DE FORMATO DE SUPERFÍCIE, DISPOSITIVO PARA ESTIMAR REGIÃO DE GERAÇÃO DE DEFEITO DE FORMATO DE SUPERFÍCIE, DISPOSITIVO PARA ESTIMAR REGIÃO DE FONTE DE DEFEITO DE FORMATO DE SUPERFÍCIE, PROGRAMA E MEIO DE GRAVAÇÃO

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · JP2016051821

Dados do pedido

Número

112017013734

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

22/01/2016

Publicação

13/03/2018

PCT

JP2016051821

Andamento no INPI

  1. Depósito22/01/16
  2. Publicação13/03/18
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 08/09/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

N. C. (pessoa física)

JP

NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION

JP

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

T. A. (pessoa física)

JP

T. K. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2015-012325 · 26/01/2015

Resumo técnico

É fornecido um método de estimativa de regiões de defeito de formato de superfície que estima regiões em que um defeito de formato de superfície ocorrerá em um artigo trabalhado em plástico obtido trabalhando-se em plástico uma peça de trabalho. O método de estimativa de regiões de geração de defeito de formato de superfície compreende uma etapa de obter uma primeira distribuição de estresse que obtém uma primeira distribuição de estresse s(T1), uma etapa de obter uma segunda distribuição de estresse que obtém uma segunda distribuição de estresse s(T2), uma etapa de obter uma distribuição de estresse comparativo que obtém uma distribuição de estresse comparativo s(T1, T2), uma etapa de obter uma distribuição de estresse comparativo segmentada que obtém uma distribuição de estresse comparativo segmentada sDIV(T1, T2) e uma etapa de estimar regiões de geração de defeito de formato de superfície que estima se cada região segmentada Dk é, ou não, uma região que gerará defeitos de formato de superfície.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

08/09/2021

RPI 2644

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

11/05/2021

RPI 2627

Exigência preliminar

#6.21

11/02/2020

RPI 2562

Alteração de nome deferida

#25.4

17/09/2019

RPI 2541

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

13/03/2018

RPI 2462

Alteração de dados cadastrais

#1.1

04/07/2017

RPI 2426

Monitoramento de patentes

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