(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

Método para analisar um fluido que compreende uma ou mais fases em uma amostra de meio poroso

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · IB2014002915

Dados do pedido

Número

112017011704

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

03/12/2014

Publicação

27/02/2018

PCT

IB2014002915

Andamento no INPI

  1. Depósito03/12/14
  2. Publicação27/02/18
  3. Exame
  4. Deferimento17/03/20
  5. Concessão14/04/20
  6. Em vigor03/12/34

Patente concedida em 14/04/2020 e em vigor até 03/12/2034. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:03/12/2034

Deixe seu contato e avisamos você

Acompanhamos as publicações do INPI e avisamos assim que houver movimentação neste processo.

Usamos seus dados apenas para este aviso.

Última movimentação publicada pelo INPI: 11/02/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

T. O. (pessoa física)

FR

T. S. (pessoa física)

FR

TOTAL SA

FR

T. S. (pessoa física)

FR

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

G. P. (pessoa física)

FR

M. N. (pessoa física)

FR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

Trata-se de um dispositivo (10) que compreende:- uma célula de medição (14) com capacidade para receber uma amostra (12) de meio poroso que contém um fluido que compreende uma ou mais fases;- uma fonte de raios X (22) com capacidade para iluminar a célula de medição (14) com raios X;- um detector (24) colocado em frente à fonte de raios X (22) em relação à célula de medição (14), sendo que o detector (24) tem capacidade para receber raios X provenientes da amostra (12) contida na célula de medição (14);distinguido pelo fato de que a fonte de raios X (22) tem capacidade para iluminar simultaneamente pelo menos uma superfície da amostra (12) sem movimento relativo entre a fonte de raios X (22) e a amostra (12), sendo que o detector (24) compreende uma pluralidade de áreas de detecção com capacidade para detectar seletivamente os raios X provenientes de pontos diferentes sobre a superfície da amostra (12).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Transferência deferida

#25.1

11/02/2025

RPI 2823

Alteração de nome deferida

#25.4

28/01/2025

RPI 2821

Alteração de nome deferida

#25.4

14/01/2025

RPI 2819

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 03/12/2014, observadas as condições legais

14/04/2020

RPI 2571

Deferimento

#9.1

17/03/2020

RPI 2567

Exigência preliminar

#6.21

17/09/2019

RPI 2541

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

27/02/2018

RPI 2460

Alteração de dados cadastrais

#1.1

13/06/2017

RPI 2423

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.