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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE TESTE ANALÍTICO DE PONTO DE ATENDIMENTO (POC) E MÉTODO PARA AUMENTAR O RENDIMENTO DE UM LEITOR DO MESMO

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2015041917

Dados do pedido

Número

112017001418

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

24/07/2015

Publicação

21/11/2017

PCT

US2015041917

Andamento no INPI

  1. Depósito24/07/15
  2. Publicação21/11/17
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 24/07/2015, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 23/10/2018. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ORTHO-CLINICAL DIAGNOSTICS, INC.

US

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Inventores

J. F. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

14/807,212 · 23/07/2015

US

62/028,439 · 24/07/2014

Resumo técnico

"SISTEMA DE TESTE ANALÍTICO DE PONTO DE ATENDIMENTO (POC) E MÉTODO PARA AUMENTAR O RENDIMENTO DE UM LEITOR DO MESMO", por tratar a invenção de um sistema de teste de ponto de atendimento (POC) compreendendo um leitor (500) tendo uma incubadora (530) localizada no interior do alojamento (504) do leitor (500), a incubadora (530) tendo um rotor (534) suportado para rotação e tendo uma pluralidade de fendas (538) arranjadas circunferencialmente. Um mecanismo de acionamento (550) é configurado para rotacionar o rotor (534) em torno de um eixo central. Uma pluralidade de elementos de teste analíticos é dimensionada para ser encaixada nas fendas (538) da incubadora (530), tanto manualmente como por demanda. Cada elemento de teste analítico compreende normalmente um suporte (102, 206, 264, 304) no interior de um cartucho (140, 204). O suporte (102, 206, 264, 304) retém pelo menos um de um chip de química seca (360) compreendendo uma camada porosa de espalhamento (184) disposta em relação empilhada com pelo menos uma camada reagente (188) ou um dispositivo de ensaio de fluxo lateral (1, 20, 100, 320), sendo que a pluralidade de elementos de teste pode assumir um fator de forma comum com capacidade multiplexada, e cujos cartuchos (140, 204) são preferencialmente fechados para permitir um processamento por meio de acesso randômico.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

23/10/2018

RPI 2494

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

07/08/2018

RPI 2483

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

21/11/2017

RPI 2446

Alteração de dados cadastrais

#1.1

07/02/2017

RPI 2405

Monitoramento de patentes

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