(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES DE UMA AMOSTRA E SISTEMA DE IMAGEAMENTO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM DE UMA AMOSTRA EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · EP2015079331

Dados do pedido

Número

112016019931

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

11/12/2015

Publicação

15/08/2017

PCT

EP2015079331

Andamento no INPI

  1. Depósito11/12/15
  2. Publicação15/08/17
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 11/12/2015, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 03/08/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

NL

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

B. H. (pessoa física)

NL

Dados técnicos

Prioridades unionistas

EP

14199531.6 · 22/12/2014

Resumo técnico

MÉTODO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES DE UMA AMOSTRA E SISTEMA DE IMAGEAMENTO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM DE UMAAMOSTRA EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES. É apresentado um método inovador para possibilitar a captura simultânea de dados de imagem de múltiplas profundidades de uma amostra volumétrica. O método possibilita a captura contínua de uma imagem 2D ou 3D, ao mesmo tempo em que é feita dinamicamente uma alteração da profundidade de captura na amostra. Este método pode ser usado também para focalização automática. Adicionalmente, este método de captura de dados de imagem da amostra possibilita eficiência ideal em termos de velocidade, e sensibilidade à luz, especificamente para o propósito aqui mencionado de imageamento 2D ou 3D de amostras com o uso de uma configuração inclinada, conforme mostrado na Figura 2. O método pode ser usado particularmente com um sensor de imageamento que compreende uma matriz de pixels 2D em um sistema de coordenadas ortogonais XY onde existem lacunas para circuitos eletrônicos. Outros sensores de imageamento também podem ser usados. Além disso, é apresentado um dispositivo de imageamento que executa automaticamente o método da presente invenção.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Adição na publicação

#15.35

03/08/2021

RPI 2639

Adição na publicação

#15.35

20/07/2021

RPI 2637

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

19/03/2019

RPI 2515

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

02/01/2019

RPI 2504

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

15/08/2017

RPI 2432

Alteração de dados cadastrais

#1.1

01/11/2016

RPI 2391

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.