Adição na publicação
#15.35
03/08/2021
RPI 2639
Dados do pedido
Número
112016019931Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2015079331 Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 11/12/2015, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 03/08/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
NL
Inventores
B. H. (pessoa física)
NL
Classificação IPC
Prioridades unionistas
EP
14199531.6 · 22/12/2014
Resumo técnico
MÉTODO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES DE UMA AMOSTRA E SISTEMA DE IMAGEAMENTO PARA A CAPTURA SIMULTÂNEA DE DADOS DE IMAGEM DE UMAAMOSTRA EM MÚLTIPLAS PROFUNDIDADES. É apresentado um método inovador para possibilitar a captura simultânea de dados de imagem de múltiplas profundidades de uma amostra volumétrica. O método possibilita a captura contínua de uma imagem 2D ou 3D, ao mesmo tempo em que é feita dinamicamente uma alteração da profundidade de captura na amostra. Este método pode ser usado também para focalização automática. Adicionalmente, este método de captura de dados de imagem da amostra possibilita eficiência ideal em termos de velocidade, e sensibilidade à luz, especificamente para o propósito aqui mencionado de imageamento 2D ou 3D de amostras com o uso de uma configuração inclinada, conforme mostrado na Figura 2. O método pode ser usado particularmente com um sensor de imageamento que compreende uma matriz de pixels 2D em um sistema de coordenadas ortogonais XY onde existem lacunas para circuitos eletrônicos. Outros sensores de imageamento também podem ser usados. Além disso, é apresentado um dispositivo de imageamento que executa automaticamente o método da presente invenção.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#15.35
03/08/2021
RPI 2639
#15.35
20/07/2021
RPI 2637
#11.1.1
19/03/2019
RPI 2515
#11.1
02/01/2019
RPI 2504
#1.3
Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.
15/08/2017
RPI 2432
#1.1
01/11/2016
RPI 2391
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