Adição na publicação
#15.35
17/08/2021
RPI 2641
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Dado oficial do INPI
MÉTODO DE OBSERVAÇÃO E ANÁLISE E DISPOSITIVO PARA OBSERVAR E ANALISAR SINGULARIDADES ÓPTICAS
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · FR2014051042
Dados do pedido
Número
112015027351Tipo
Patente de Invenção
Depósito
30/04/2014
Publicação
12/09/2017
PCT
FR2014051042 Andamento no INPI
- Depósito30/04/14
- Publicação12/09/17
- Exame
- Deferimento03/03/20
- Arquivado
- Em vigor
Pedido deferido em 03/03/2020, mas arquivado por falta do pagamento da concessão (art. 38 da LPI). A carta-patente nunca foi emitida.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 17/08/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
MSC & SGCC
FR
Inventores
E. P. (pessoa física)
FR
L. F. (pessoa física)
FR
M. L. (pessoa física)
FR
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
FR
13 54107 · 03/05/2013
Resumo técnico
MÉTODO DE OBSERVAÇÃO E ANÁLISE E DISPOSITIVO PARA OBSERVAR E ANALISAR SINGULARIDADES ÓPTICAS.A invenção refere-se a um método para observar e analisar singularidades ópticas, consistindo: em iluminar o exterior do recipiente usando uma superfície luminosa (6) que é axialmente simétrica em relação a um eixo geométrico vertical (Z) paralelo ao eixo geométrico de simetria dos recipientes, uma variação de uma propriedade da emissão sendo detectável por um ou mais sistemas de aquisição (11) ao longo de uma geratriz da superfície luminosa; no caso de recipientes de baixa transmissão, ao formar imagem da porção do recipiente com o dispositivo de aquisição de imagem recebendo feixes de luz originados daquela porção da superfície luminosa (6) que está localizada do mesmo lado do recipiente; ou, no caso de recipientes de alta transmissão, ao formar imagem da porção do recipiente com o dispositivo de aquisição de imagem recebendo feixes de luz originados daquela porção da superfície luminosa (6) que é radialmente oposta em relação ao recipiente.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento - Art. 38 §2° da LPI
#11.4
01/09/2020
RPI 2591
Deferimento
#9.1
03/03/2020
RPI 2565
Exigência preliminar
#6.21
12/11/2019
RPI 2549
Notificação de acesso ao patrimônio genético
#6.6.1
13/11/2018
RPI 2497
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
12/09/2017
RPI 2436
Alteração de dados cadastrais
#1.1
08/12/2015
RPI 2344
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