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Dado oficial do INPI

MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR A ESTRUTURA ESPACIAL DE UM OBJETO, MÉTODO PARA DETERMINAR O EFEITO ÓPTICO DEPENDENTE DE LOCALIZAÇÃO E DIREÇÃO DE UM OBJETO E USO DE UM SISTEMA

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2014058859

Dados do pedido

Número

112015024512

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

30/04/2014

Publicação

18/07/2017

PCT

EP2014058859

Andamento no INPI

  1. Depósito30/04/14
  2. Publicação18/07/17
  3. Exame
  4. Deferimento21/12/21
  5. Concessão22/02/22
  6. Em vigor30/04/34

Patente concedida em 22/02/2022 e em vigor até 30/04/2034. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:30/04/2034

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Última movimentação publicada pelo INPI: 22/02/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

CARL ZEISS AG

DE

CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH

DE

Inventores

A. H. (pessoa física)

DE

C. G. (pessoa física)

DE

L. O. (pessoa física)

DE

M. H. (pessoa física)

DE

Y. S. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

DE

10 2013 208 090.5 · 02/05/2013

DE

10 2013 208 091.3 · 02/05/2013

DE

10 2013 219 838.8 · 30/09/2013

Resumo técnico

RESUMOPatente de Invenção: "MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR A ESTRUTURA ESPACIAL DE UM OBJETO". A fim de determinar a estrutura espacial de um objeto, em particular, uma lente de óculos (612), um bloco em bruto de lente de óculos, ou um produto semiacabado de lente de óculos, sendo que o dito objeto tem uma primeira superfície opticamente ativa (614) e uma segunda superfície opticamente ativa (616), as seguintes etapas são realizadas: o objeto (612) é disposto em um dispositivo de retenção (610). A posição de pelo menos um ponto (P) na primeira superfície opticamente ativa (614) e a posição de pelo menos um ponto (P') na segunda superfície opticamente ativa (616) são referidas em um sistema de coordenadas que é fixado em relação ao dispositivo de retenção (610). A topografia da primeira superfície opticamente ativa (614) do objeto (612) é determinada em um sistema de coordenadas (659) que é referido ao dispositivo de retenção (610) por meio da posição do pelo menos um ponto (P) na primeira superfície opticamente ativa (614), e a estrutura espacial do objeto (612) é calculada a partir da topografia da primeira superfície opticamente ativa (614) e a partir de um conjunto de dados relativo à topografia da segunda superfície opticamente ativa (616), em que o conjunto de dados é referido ao sistema de coordenadas fixado (618) do dispositivo de retenção (610) por meio da posição do pelo menos um ponto (P') na segunda superfície opticamente ativa (616).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 30/04/2014, observadas as condições legais

22/02/2022

RPI 2668

Deferimento

#9.1

21/12/2021

RPI 2659

Exigência preliminar

#6.21

07/04/2020

RPI 2570

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

13/11/2018

RPI 2497

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

18/07/2017

RPI 2428

Alteração de dados cadastrais

#1.1

08/12/2015

RPI 2344

Monitoramento de patentes

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