(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

SISTEMA E APARELHO PARA GRAVAÇÃO DE PARÂMETROS DE OPERAÇÃO DE UM DISPOSITIVO ELETRÔNICO INTELIGENTE, E, MÉTODO PARA MONITORAR UM DISPOSITIVO ELETRÔNICO INTELIGENTE.

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · US2013067224

Dados do pedido

Número

112015009923

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

29/10/2013

Publicação

12/12/2017

PCT

US2013067224

Andamento no INPI

  1. Depósito29/10/13
  2. Publicação12/12/17
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 17/08/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

SCHWEITZER ENGINEERING LABORATORIES, INC

US

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

D. W. (pessoa física)

US

E. I. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

13/668737 · 05/11/2012

Resumo técnico

SISTEMA E APARELHO PARA GRAVAÃÃO DE PARÃMETROS DE OPERAÃÃO DE UM DISPOSITIVO ELETRÃNICO INTELIGENTE, E, MÃTODO PARA MONITORAR UM DISPOSITIVO ELETRÃNICO INTELIGENTE. A presente descrição provê sistemas e métodos para gravação de parâmetros de operação de um dispositivo eletrônico inteligente (IED). Um sistema pode incluir um módulo de aquisição de parâmetro, um módulo de armazenamento de parâmetro e um módulo de gerenciamento de memória. O módulo de aquisição de parâmetro pode ser configurado para obter periodicamente parâmetros de operação de um IED em um primeiro intervalo. O primeiro intervalo pode ter uma primeira duração de tempo para prover uma primeira resolução de operação do IED. O módulo de armazenamento de parâmetro pode ser configurado para armazenar os parâmetros de operação. O môdulo de gerenciamento de memôria pode ser configurado para deletar, fora de um primeiro perÃodo de resolução, uma primeira parte dos parâmetros de operação ao mesmo tempo em que mantém uma segunda parte dos parâmetros de operação. A segunda parte pode incluir parâmetros de operação para cada um de um segundo intervalo. O segundo intervalo pode ter uma segunda duração de tempo para prover uma segunda resolução reduzida da operação do IED.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Adição na publicação

#15.35

17/08/2021

RPI 2641

Adição na publicação

#15.35

03/08/2021

RPI 2639

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2454 de 16-01-2018 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

08/05/2018

RPI 2470

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 4ª anuidade.

16/01/2018

RPI 2454

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

12/12/2017

RPI 2449

Alteração de dados cadastrais

#1.1

28/11/2017

RPI 2447

Relacionados

Do mesmo titular

Da mesma categoria

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.