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Dado oficial do INPI

LENTE OFTÁLMICA FOTOCRÔMICA, FILTRO CONSTITUÍDO POR UMA OU VÁRIAS CAMADAS E PAR DE ÓCULOS

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · FR2013052426

Dados do pedido

Patente de Invenção LENTE OFTÁLMICA FOTOCRÔMICA, FILTRO CONSTITUÍDO POR UMA OU VÁRIAS CAMADAS E PAR DE ÓCULOS — IPC G02B 5/28
Patente de Invenção LENTE OFTÁLMICA FOTOCRÔMICA, FILTRO CONSTITUÍDO POR UMA OU VÁRIAS CAMADAS E PAR DE ÓCULOS — IPC G02B 5/28. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112015007667

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

10/10/2013

Publicação

12/11/2019

PCT

FR2013052426

Andamento no INPI

  1. Depósito10/10/13
  2. Publicação12/11/19
  3. Exame
  4. Deferimento07/12/21
  5. Concessão03/03/22
  6. Em vigor10/10/33

Patente concedida em 03/03/2022 e em vigor até 10/10/2033. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:10/10/2033

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Última movimentação publicada pelo INPI: 03/03/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

E. I. (pessoa física)

FR

ESSILOR INTERNATIONAL (COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE)

FR

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

A. K. (pessoa física)

FR

H. M. (pessoa física)

FR

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

FR

1259714 · 11/10/2012

Resumo técnico

LENTE OFTÁLMICA FOTOCRÔMICALente oftálmica fotocrômica que compreende um substrato fotocrômico e um filtro que compreende uma ou mais camadas formadas sobre a face principal frontal da lente oftálmica, caracterizada pelo facto de que o filtro apresenta uma espessura total inferior ou igual a 700 nm e o filtro confere a face principal frontal as seguintes propriedades: - um fator médio de reflexão no UVA sobre uma gama de comprimentos de onda que varia entre 330 nanômetros e 380 nanômetros, que é inferior ou igual a 40%, para um ângulo de incidência entre 0° e 15°, - um fator médio reflexão no azul sobre uma gama de comprimentos de onda que vai de 420 nanômetros a 450 nanômetros, que é superior ou igual a 5%, para um ângulo de incidência compreendido entre 0° e 15°, - uma curva de refletividade espectral para um ângulo de incidência compreendido entre 0° e 15°, esta curva de refletividade tendo uma refletividade máxima a um comprimento de onda inferior a 435 nanômetros, e uma largura a meia altura superior ou igual a 70 nanômetros, e - Para um ângulo de incidência compreendido entre 0° e 15°, um parâmetro (Delta)espectral = 1 -[R0° -15°(480 nm) / R0°-15° (435 nm)], tal que este parâmetro (Delta)espectral é superior ou igual a 0,8, em que R0º -15° (480 nm) representa o valor da refletividade da face principal da frente a 480 nanômetros para a incidência considerada, e R0° -15° (435 nm) o valor da refletividade da face principal frontal a 435 nanômetros à incidência considerada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 10/10/2013, observadas as condições legais

03/03/2022

RPI 2669

Deferimento

#9.1

07/12/2021

RPI 2657

Adição na publicação

#15.35

13/10/2021

RPI 2649

Exigência preliminar

#6.21

16/06/2020

RPI 2580

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Exigência cumprida - Protocolo 870190111857, de 01/11/2019.

12/11/2019

RPI 2549

Exigências diversas

#1.5

Solicita-se regularizar o documento de procuração apresentado na petição inicial, uma vez que o mesmo não possui data de assinatura.

03/09/2019

RPI 2539

Publicação anulada

#1.3.2

Anulada a publicação código 1.3 na RPI nº 2426 de 04/07/2017 por ter sido indevida.

27/08/2019

RPI 2538

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

21/11/2018

RPI 2498

Transferência deferida

#25.1

31/07/2018

RPI 2482

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

04/07/2017

RPI 2426

Alteração de dados cadastrais

#1.1

22/04/2015

RPI 2311

Monitoramento de patentes

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