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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE MEDIÇÃO DA TEMPERATURA DA SUPERFÍCIE

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · JP2013072258

Dados do pedido

Número

112015001855

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

21/08/2013

Publicação

04/07/2017

PCT

JP2013072258

Andamento no INPI

  1. Depósito21/08/13
  2. Publicação04/07/17
  3. Exame
  4. Deferimento28/04/20
  5. Concessão13/10/20
  6. Em vigor21/08/33

Patente concedida em 13/10/2020 e em vigor até 21/08/2033. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:21/08/2033

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Última movimentação publicada pelo INPI: 13/10/2020. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

N. C. (pessoa física)

JP

NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION

JP

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Inventores

C. U. (pessoa física)

JP

T. H. (pessoa física)

JP

Y. W. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2012-183193 · 22/08/2012

Resumo técnico

RESUMOPatente de Invenção: "APARELHO PARA MEDIÇÃO DA TEMPERATURA DA SUPERFÍCIE E MÉTODO DE MEDIÇÃO DA TEMPERATURA DA SUPERFÍCIE". Fornecer um aparelho de medição de temperatura de superfície que seja capaz de medir com precisão a temperatura da superfície de um material alvo de medição de temperatura tal como um material de aço (por exemplo, uma roda, um tubo de aço, uma chapa de aço, ou um trilho) em um processo de resfriamento com água, e um método de medição da mesma. Um aparelho de medição de temperatura de superfície (100) conforme a presente invenção inclui um termômetro de radiação (1) configurado para detectar a luz de radiação térmica emitida pela superfície de um material alvo de medição de temperatura (W) em um processo de resfriamento com água, uma carcaça (2) tendo uma abertura no lado do material alvo de medição de temperatura (W), a carcaça (2) armazenando, no seu interior, pelo menos uma unidade de recebimento de luz (11) do termômetro de radiação (1) entre elementos estruturais do termômetro de radiação (1), e um vidro ótico (3) que é ajustado e selado no interior da carcaça (2) entre o material alvo de medição de temperatura (W) e a unidade de recebimento de luz (11) do termômetro de radiação (1), o vidro ótico (3) sendo configurado para transmitir a luz de radiação térmica. O vidro ótico (3) tem, no lado do material alvo de medição de temperatura (W), uma superfície extrema adjacente à superfície do material alvo de medição de temperatura (W).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 21/08/2013, observadas as condições legais

13/10/2020

RPI 2597

Deferimento

#9.1

28/04/2020

RPI 2573

Exigência preliminar

#6.21

04/02/2020

RPI 2561

1.3.4

Anulada a publicação código 1.3.2 na RPI nº 2535 de 06/08/2019 por ter sido indevida.

29/10/2019

RPI 2547

1.5.3

Anulada a publicação código 1.5 na RPI nº 2536 de 13/08/2019 por ter sido indevida.

01/10/2019

RPI 2543

Alteração de nome deferida

#25.4

10/09/2019

RPI 2540

Exigências diversas

#1.5

Apresente a tradução simples da folha de rosto da certidão de depósito da prioridade JP 2012-183193; ou declaração de que os dados do pedido internacional estão fielmente contidos na prioridade reivindicada, contendo todos os dados identificadores desta (titulares, número de registro, data e título), conforme o parágrafo único do Art. 25 da Resolução 77/2013. Cabe salientar que não foi possível identificar os titulares do pedido prioritário nos documentos juntados ao processo, tampouco nos apresentados na OMPI, pois se encontram em japonês.

13/08/2019

RPI 2536

Publicação anulada

#1.3.2

Anulada a publicação código 1.3 na RPI nº 2426 de 04/07/2017 por ter sido indevida.

06/08/2019

RPI 2535

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

21/11/2018

RPI 2498

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

04/07/2017

RPI 2426

Alteração de dados cadastrais

#1.1

31/03/2015

RPI 2308

Monitoramento de patentes

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