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Dado oficial do INPI

APARELHO DE MEDIÇÃO DE CARACTERÍSTICAS DE OBJETO

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · JP2012082504

Dados do pedido

Número

112014014734

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

14/12/2012

Publicação

08/12/2020

PCT

JP2012082504

Andamento no INPI

  1. Depósito14/12/12
  2. Publicação08/12/20
  3. Exame
  4. Deferimento29/06/21
  5. Concessão10/08/21
  6. Em vigor14/12/32

Patente concedida em 10/08/2021 e em vigor até 14/12/2032. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:14/12/2032

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Depositantes e inventores

Depositantes

JAPAN RADIO CO., LTD.

JP

TST BIOMEDICAL ELECTRONICS CO., LTD.

TW

Inventores

H. Y. (pessoa física)

JP

N. Y. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2011-281603 · 22/12/2011

JP

2012-232060 · 19/10/2012

Resumo técnico

APARELHO DE MEDIÇÃO DE CARACTERÍSTICAS DE OBJETOEste dispositivo para medir uma característica de um objeto medido é provido de um elemento de onda de superfície elástica. O elemento de onda de superfície elástica é provido de: um eletrodo em forma de pente para excitar uma onda elástica e receber uma reflexão com base na onda elástica, o eletrodo sendo formado sobre a primeira superfície de um substrato piezelétrico; uma parte de reflexão possuindo uma terceira superfície e uma quarta superfície; um campo de reação formado entre o eletrodo em forma de pente e a parte de reflexão, o campo de reação sendo carregado com o objeto de medição; e uma parte de propagação formada entre a parte de reflexão e a segunda superfície. A terceira superfície da parte de reflexão é formada entre o eletrodo em forma de pente e uma segunda superfície ortogonal à primeira superfície na direção de propagação da onda elástica, a terceira superfície sendo formada em uma posição diferente da primeira superfície na direção da normal à primeira superfície. A quarta superfície conecta a terceira superfície e uma parte de extremidade da primeira superfície, e é formada perpendicularmente à normal à primeira superfície. A partir da onda elástica propagada a partir do eletrodo em forma de pente através do campo de reação, refletida pela quarta superfície e recebida pelo eletrodo em forma de pente, uma característica do objeto de medição é determinada com base em uma onda elástica de superfície isolada de uma onda de massa incluída na onda elástica de superfície refletida pela segunda superfície e recebida pelo eletrodo em forma de pente.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Transferência deferida

#25.1

13/01/2026

RPI 2871

Alteração de sede deferida

#25.7

30/12/2025

RPI 2869

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 14/12/2012, observadas as condições legais

10/08/2021

RPI 2640

Deferimento

#9.1

29/06/2021

RPI 2634

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/12/2020

RPI 2605

Exigências diversas

#1.5

Apresentar, em até 60 (sessenta) dias, documentos comprobatórios que expliquem e regularizem a divergência no nome do inventor constante na publicação internacional WO/2013/094531 de 27/06/2013 como HIROMI YATSUDA e o constante no formulário da petição inicial nº 020140020028 de 16/03/2014 como HIROMU YATSUDA uma vez que não houve envio de documento comprovando que os nome correto do inventor é o declarado na entrada nacional.

24/09/2020

RPI 2594

1.3.4

Anulada a publicação código 1.3 na RPI nº 2433 de 22/08/2017 por ter sido indevida.

15/09/2020

RPI 2593

Exigência preliminar

#6.21

19/11/2019

RPI 2550

Retificação da notificação da fase nacional - PCT

#1.3.1

Foi retificada a publicação 1.3 da RPI 2433 de 22/08/2017 em relação ao item 54 da mesma.

12/02/2019

RPI 2510

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

04/12/2018

RPI 2500

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

22/08/2017

RPI 2433

Alteração de dados cadastrais

#1.1

21/10/2014

RPI 2285

Monitoramento de patentes

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