Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
30/05/2017
RPI 2421
Dados do pedido
Número
112013024613Tipo
Depósito
Publicação
PCT
US2012031182 Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 29/03/2012, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 30/05/2017. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
SAGE ELECTROCHROMICS, INC.
US
Inventores
J. G. (pessoa física)
US
J. R. (pessoa física)
DE
K. W. (pessoa física)
DE
O. S. (pessoa física)
FR
P. L. (pessoa física)
BE
S. P. (pessoa física)
US
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
61/470083 · 31/03/2011
Resumo técnico
SISTEMA E MÉTODO PARA DETECTAR E REPARAR UM DEFEITO EM UM DISPOSITIVO ELETROCRÔMICO São descritos sistema (1) e método (100) para detectar e reparar um defeito em um dispositivo eletrocrômico (30) que pode incluir adquirir uma imagem térmica do dispositivo eletrocrômico (30) quando o dispositivo está em um estado operacional. Além do mais, o sistema e método podem incluir processar dados de formação de imagem térmica representativos da imagem térmica para detectar um defeito no dispositivo eletrocrômico, comparando a amplitude térmica detectada em um ou mais pixels da imagem térmica com um valor predeterminado, e determinar uma localização do dispositivo eletrocrômico correspondente ao defeito detectado.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#11.1.1
30/05/2017
RPI 2421
#11.1
14/03/2017
RPI 2410
#1.3
27/12/2016
RPI 2399
#1.1
07/01/2014
RPI 2244
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