Adição na publicação
#15.35
08/06/2021
RPI 2631
Dados do pedido
Número
112013019567Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2012000484 Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 08/06/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
LUFTHANSA TECHNIK AG
DE
Inventores
T. B. (pessoa física)
DE
Prioridades unionistas
DE
10 2011 010 393.7 · 05/02/2011
Resumo técnico
MÉTODO DE TESTE PARA UMA MARCAÇÃO DE VIA DE ESCAPAMENTO.A invenção refere-se a um método de teste para uma marcação de via de escapamento que tem uma posição de instalação e é iluminada por uma fonte de luz localizada em uma posição definida com relação à posição de instalação, a fim de carregar a marcação de via de escapamento para obter um tempo de pós-luminescência,compreendendo as seguintes etapas de procedimento:- uma curva de excitação A (Lambda) para a marcação de via de escapamento é provida, dependendo do comprimento de onda;- a irradiação E (Lambda) da fonte de luz é registrada para a posição de instalação da marcação de via de escapamento, dependendo do comprimento de onda;- uma irradiação ponderada B (Lambda) é determinada como um produto da irradiação e da curva de excitação, dependendo do comprimento de onda;- uma irradiação de carregamento (BiL) é determinada como um integral sobre a irradiação ponderada através do comprimento de onda; e- uma curva característica Ktl (BiL) dependendo do tempo de carregamento tl especifica que tempo de pós-luminescência surge para a marcação de via de escapamento com o tempo de carregamento tl para a irradiação de carregamento (BiL).
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#15.35
08/06/2021
RPI 2631
#8.11
Referente ao arquivamento publicado na RPI 2499 de 27/11/2018.
19/03/2019
RPI 2515
#8.6
Referente à 7ª anuidade.
27/11/2018
RPI 2499
#1.3
04/10/2016
RPI 2387
#1.1
07/01/2014
RPI 2244
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