Patente de Invenção SISTEMAS E MÉTODOS PARA MEDIÇÃO DE ANALITO DE PRECISÃO ALTA de CILAG GMBH INTERNATIONAL — IPC G01N 33/48. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
SISTEMAS E MÉTODOS PARA MEDIÇÃO DE ANALITO DE PRECISÃO ALTA. Trata-se de métodos para determinar uma concentração de um analito em uma amostra, e os dispositivos e sistemas usados em conjunto com o mesmo, que são fornecidos no presente documento. Em uma modalidade exemplificativa de um método para determinar uma concentração de um analito em uma amostra, uma amostra que inclui um analito é fornecida em uma amostra que analisa um dispositivo que tem um contraeletrodo e um eletrodo de trabalho. Um potencial elétrico é aplicado entre os eletrodos e uma primeira concentração de analito é determinada. Um segundo valor de concentração de analito é calculado a partir do primeiro valor de concentração de analito e corrigido para efeitos de temperatura, tendo de preenchimento e capacitância para fornecer um valor de concentração de analito final.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
