Adição na publicação
#15.35
08/06/2021
RPI 2631
Dados do pedido
Número
112013014837Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2011070376 Pedido arquivado pelo INPI. O processo foi encerrado sem chegar a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 08/06/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
F. HOFFMANN-LA ROCHE AG
CH
Inventores
M. K. (pessoa física)
FR
Classificação IPC
Prioridades unionistas
EP
10195732.2 · 17/12/2010
Resumo técnico
SISTEMA DE CONTROLE PARA CONTROLAR AUTOMATICAMENTE UMA PLURALIDADE DE DISPOSITIVOS DE UM PROCESSO DE DETECÃÃO E SEPARAÃÃO.A presente invenção refere-se a um sistema de controle (1) para controlar automaticamente uma pluralidade de dispositivos (2) de um processo de detecção e separação para análise de amostra quantitativa, que compreende um armazenamento de dados (11), uma unidade de modelação de dispositivo (12), uma unidade de modelação de amostra (13), uma unidade de geração de sequência (14) e uma unidade de interface (16). Assim, o armazenamento de dados (11) guarda dados caracterÃsticos de cada um dos dispositivos (2) e a unidade de modelação de dispositivo (12) é disposta para modelar os dispositivos (2) por meio do uso dos dados caracterÃsticos dos dispositivos (2) guardados no armazenamento de dados (11). O armazenamento de dados (11) guarda dados de amostras de fonte (3) e a unidade de modelação de amostra (13) é disposta para gerar uma pluralidade de amostras analÃticas a serem analisadas no processo de detecção e separação para análise de amostra quantitativa por meio do uso dos dados de amostras de fonte (3) guardadas no armazenamento de dados (11). A unidade de geração de sequência (14) define uma sequência de amostra analÃtica das amostras analÃticas no processo de detecção e separação para análise de amostra quantitativa levando em consideração a utilização dos dispositivos (2). Ademais, a unidade de interface (16) opera os dispositivos (2) do processo de detecção e separação para análise de amostra quantitativa em conformidade com a sequência de amostra analÃtica definida pela unidade de geração de sequência (14). Levando-se em consideração a utilização dos dispositivos (2) para gerar a sequência de amostra analÃtica, a utilização e também o processo de detecção e separação para análise de amostra quantitativa podem ser otimizados. Isso permite, particularmente, a coordenação e sincronização dos dispositivos (2) de modo que um processo de detecção e separação eficiente para resultados de análise de amostra quantitativa.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#15.35
08/06/2021
RPI 2631
#11.20
29/09/2020
RPI 2595
#11.5
ARQUIVADO O PEDIDO, UMA VEZ QUE NÃO FORAM ATENDIDAS AS EXIGÊNCIAS PREVISTAS NO ART. 34 DA LPI. DESTA DATA CORRE O PRAZO DE 60(SESSENTA) DIAS PARA EVENTUAL RECURSO DO INTERESSADO.
20/08/2019
RPI 2537
11/06/2019
RPI 2527
#6.6.1
03/04/2018
RPI 2465
#1.3
04/10/2016
RPI 2387
#1.1
05/04/2016
RPI 2361
Do mesmo titular
Da mesma categoria
Monitoramento de patentes
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.