PROCESSO DE CARACTERIZAÇÃO DA SENSIBILIDADE DE COMPONENTES ELETRÔNICOS EM RELAÇÃO A MECANISMOS DESTRUTIVOS

Classificação IPC

Prioridades unionistas

Resumo técnico

PROCESSO DE CARACTERIZAÃÃO DA SENSIBILIDADE DE COMPONENTES ELETRÃNICOS EM RELAÃÃO A MECANISMOS DESTRUTIVOS.A presente invenção refere-se a um processo de caracterização da sensibilidade de um componente eletrônico em relação a um ambiente radioativo natural, no qual: coloca-se o componente eletrônico em funcionamento, para características de uma partícula ou de um feixe incidente dadas, tais como a energia, a incidência e/ou o percurso, determina-se um domínio de tensão SOA acima do qual eventos destrutivos do dito componente ocorrerão, excita-se o componente eletrônico assim colocado em funcionamento com as características da partícula ou do feixe incidente, em condições de funcionamento próximas do maior valor de tensão do domínio de tensão SOA determinado, determina-se uma seção eficaz dos eventos transitórios amplificados, essa seção eficaz correspondendo a uma estimativa dos fenômenos destrutivos do dito componente, modifica-se as características da dita partícula ou do dito feixe, e reitera-se a excitação do dito componente, determina-se a seção eficaz para cada modificação de características.