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Dado oficial do INPI

Método para sondar um material alvo eletricamente condutor, meio legível por computador, dispositivo para sondar um material alvo eletricamente condutor e usina para o processamento de um material alvo eletricamente condutor

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · SE2011050512

Dados do pedido

Número

112012027423

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

27/04/2011

Publicação

08/08/2017

PCT

SE2011050512

Andamento no INPI

  1. Depósito27/04/11
  2. Publicação08/08/17
  3. Exame
  4. Deferimento07/04/20
  5. Concessão17/11/20
  6. Em vigor27/04/31

Patente concedida em 17/11/2020 e em vigor até 27/04/2031. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:27/04/2031

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Depositantes e inventores

Depositantes

AGELLIS GROUP AB

SE

REFRACTORY INTELLECTUAL PROPERTY GMBH & CO. KG

AT

Inventores

A. R. (pessoa física)

SE

A. L. (pessoa física)

SE

J. N. (pessoa física)

SE

P. B. (pessoa física)

SE

Dados técnicos

Prioridades unionistas

SE

1000437-2 · 30/04/2010

US

61/282,975 · 03/05/2010

Resumo técnico

MÃTODO PARA SONDAR UMA MATERIAL ALVO ELETRICAMENTE CONDUTOR MEIO LEGÃVEL POR COMPUTADOR, PRODUTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR,DISPOSITIVO PARA SONDAR UM MATERIAL ALVO ELETRICAMENTE CONDUTOR E USINA PARA O PROCEDIMENTO DE UM MATERIAL ELETRICAMENTE CONDUTOR. Trata-se de um método, implantado por um dispositivo de computador controlado por software e/ou por hardware dedicado, que é projetado para sondar uma material alvo eletricamente condutor (M),por exemplo metal fundido ou material semicondutor, em um vaso metalúrgico (I). No método, um sinal de medição é adquirido a partir de um sensor (4), o qual é inserido dentro do material alvo (m), durante um deslocamento relativo entre o material alvo eletricamente condutor (M) é o sensor (4), sendo que o sinal de medição é indicativo de condutividade elétrica na proximidade do sensor (4). O sinal de medição é gerado para representar as alterações temporárias em um campo eletromagnético ao redor do sensor (4), o qual é criado mediante a operação de pelo menos uma bobina (82;92) no senso (4). Com base no sinal de medição, um perfil de sinal é gerado para ser indicativo da condutividade elétrica como uma função do movimento relativo, o método permite uma sondagem da distribuição interna do material alvo (M) no vaso (1) em qualquer nível de detalhe. O perfil de sinal pode ser analisado para fornecer informações sobre zonas/camadas (S,M1,M2) que difiram em , por exemplo composição da matéria , grau de fusão ou grau de mistura

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Transferência deferida

#25.1

09/04/2024

RPI 2779

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 27/04/2011, observadas as condições legais

17/11/2020

RPI 2602

Deferimento

#9.1

07/04/2020

RPI 2570

Exigência preliminar

#6.21

13/08/2019

RPI 2536

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

26/12/2018

RPI 2503

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/08/2017

RPI 2431

Alteração de dados cadastrais

#1.1

18/12/2012

RPI 2189

Monitoramento de patentes

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