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Dado oficial do INPI

APARELHO DE INSPEÇÃO DE DEFEITOS

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · JP2011051583

Dados do pedido

Número

112012018564

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

27/01/2011

Publicação

31/07/2018

PCT

JP2011051583

Andamento no INPI

  1. Depósito27/01/11
  2. Publicação31/07/18
  3. Exame
  4. Deferimento28/05/19
  5. Concessão02/07/19
  6. Em vigor27/01/31

Patente concedida em 02/07/2019 e em vigor até 27/01/2031. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:27/01/2031

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Última movimentação publicada pelo INPI: 22/10/2019. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

N. C. (pessoa física)

JP

NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION

JP

SUMITOMO METAL INDUSTRIES, LTD

JP

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

K. A. (pessoa física)

JP

K. S. (pessoa física)

JP

M. I. (pessoa física)

JP

T. S. (pessoa física)

JP

Y. N. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2010-017909 · 29/01/2010

Resumo técnico

APARELHO DE INSPEÇÃO DE DEFEITOS Trata-se de um dispositivo de inspeção de defeito que pode detectar precisamente defeitos na superfície de carga de um cano que tem uma superfície de carga inclinada para longe da extremidade de cano e defeitos em uma região de inspeção entre rosas de parafuso. Sendo que o dito dispositivo de inspeção de defeito, o qual também pode detectar defeitos na superfície externa de uma seção de lábio , é caracterizado pelo fornecimento de: uma primeira fonte de luz (20; um primeiro meio de imageamento (3) que imagea a superfície externa de uma seção de lábio (102) mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da primeira fonte de luz e refletida para longe da superfície externa da dita seção de lábio ; uma segunda fonte de luz (7); um segundo meio de imageamento (8) que imageia uma superfície de carga ( 103) mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da segunda fonte de luz e refletida para longe da superfície de carga; uma terceira fonte de luz (9) ; um terceiro meio de imageamento (10) que iamgeia uma região de inspeção (106) entre as roscas de parafuso mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da terceira fonte de luz e refletida para longe da dita região de inspeção ; e um meio de inspeção que executa o processamento de imagem nas imagens obtidas pelo primeiro até o terceiro meio de imageamento com a finalidade de detecar defeitos na superfície externa da seção de lábio , na superfície de carga , e na região de inspeção entre as roscas de parafuso.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Alteração de nome deferida

#25.4

22/10/2019

RPI 2546

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 27/01/2011, observadas as condições legais

02/07/2019

RPI 2530

Deferimento

#9.1

28/05/2019

RPI 2525

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

08/01/2019

RPI 2505

Transferência deferida

#25.1

04/09/2018

RPI 2487

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

31/07/2018

RPI 2482

Exigências diversas

#1.5

Apresente documentos comprobatórios que expliquem a divergência no nome de um dos inventores que consta na publicação internacional WO 2011/093372 de 04/08/2011 Kazutaka ANAYAMA e o constante da petição inicial nº 020120069048 de 26/07/2012 Kazunori Anayama.

29/05/2018

RPI 2473

Alteração de dados cadastrais

#1.1

18/12/2012

RPI 2189

Monitoramento de patentes

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