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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA REAMOSTRAGEM DE DADOS DE VARREDURA POR ULTRASSOM, APARELHO PARA REAMOSTRAGEM DE DADOS DE VARREDURA POR ULTRASSOM E SISTEMA DE PROCESSAMENTO POR ULTRASSOM

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · EP2010067529

Dados do pedido

Número

112012011499

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

16/11/2010

Publicação

24/09/2019

PCT

EP2010067529

Andamento no INPI

  1. Depósito16/11/10
  2. Publicação24/09/19
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 21/01/2020. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ADVANCED MEDICAL DIAGNOSTICS HOLDING S.A.

BE

Inventores

C. B. (pessoa física)

GB

D. N. (pessoa física)

BE

M. S. (pessoa física)

BE

R. N. (pessoa física)

BE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

EP09/065246 · 16/11/2009

Resumo técnico

MÃTODO PARA REAMOSTRAGEM DE DADOS DE VARREDURA POR ULTRASSOM, APARELHO PARA REAMOSTRAGEM DE DADOS DE VARREDURA POR ULTRASSOM E SISTEMA DE PROCESSAMENTO POR ULTRASSOMA presente invenção refere-se à filtragem multidimensional de dados de varredura por ultrassom para antisserrilhamento (antialiasing) ou reconstrução com o propósito de reamostragem. Em particular, a presente invenção fornece um método de reamostragem dados de varredura por ultrassom, o qual compreende as etapas de: a) obter dados de varredura por ultrassom amostrados adquiridos a partir de um sistema formador de feixe, sendo que os dados amostrados são definidos por um sistema de coordenada de amostra n- dimensional original que tem n eixos geométricos, o qual é definido pela sonda de ultrassom e por geometria de varredura e no qual as amostras são espaçadas uniformemente ao longo de cada eixo geométrico quando medidas em unidades adequadas à quele eixo geométrico; b) definir posições de amostra alvo desejadas em um sistema de coordenada n-dimensional alvo, as quais são uniformemente espaçadas ao longo de cada eixo geométrico quando medidas em unidades adequadas à quele eixo geométrico; c) mapear as posições de amostra alvo definidas na etapa (b) no dito sistema de coordenada de amostra n-dimensional original da etapa (a); d) quantizar as posições das amostras alvo mapeadas da etapa (c) para que estejam em subespaçamentos de número inteiro exato simples entre as posições de amostra originais; e) projetar um conjunto de núcleos de filtro lineares n-dimensionais de acordo com a aplicação do Teorema de Amostragem de Nyquist-Shannon, um para cada posição de amostra alvo diferente relativa à s posições de amostra originais de seus vizinhos mais próximos, e com o uso das coordenadas de amostra originais dos dados amostrados da etapa (a) e as posições de amostra alvo desejadas da etapa (d) em seus espaços n-dimensionais respectivos, sendo que o dito filtro n-dimensional é separável ao longo de cada uma das dimensões de varredura originais; e f) aplicar aos dados amostrados da etapa (a) o conjunto de núcleos de filtro lineares n-dimensionais projetados na etapa (e), sendo que cada filtro é aplicado para calcular a amostra alvo, obtendo, desse modo, dados reamostrados.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2543 de 01-10-2019 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

21/01/2020

RPI 2559

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

01/10/2019

RPI 2543

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática código 1.3 conforme Comunicado RPI 2542, de 24/9/2019.

24/09/2019

RPI 2542

1.1.1

Referente à RPI 2183 de 06/11/2012, quanto ao item (30).

26/06/2018

RPI 2477

Alteração de dados cadastrais

#1.1

06/11/2012

RPI 2183

Monitoramento de patentes

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