TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

MÉTODO DE MONITORAMENTO CONTÍNUO DE DESGASTE REFRATÁRIO

PublicadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO DE MONITORAMENTO CONTÍNUO DE DESGASTE REFRATÁRIO de SHINAGAWA REFRATÁRIOS DO BRASIL LTDA — IPC F27D 21/00
Patente de Invenção MÉTODO DE MONITORAMENTO CONTÍNUO DE DESGASTE REFRATÁRIO de SHINAGAWA REFRATÁRIOS DO BRASIL LTDA — IPC F27D 21/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102024026760

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

19/12/2024

Publicação

30/06/2026

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito19/12/24
  2. Publicação30/06/26
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 19/12/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:19/12/2027(faltam 423 dias)

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 30/06/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

SHINAGAWA REFRATÁRIOS DO BRASIL LTDA

SP, BR

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

A. G. (pessoa física)

BR

H. L. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

MÉTODO DE MONITORAMENTO CONTÍNUO DE DESGASTE REFRATÁRIO. Descreve-se um método de monitoramento contínuo de desgaste refratário, particularmente utilizado para acompanhar desgastes de paredes refratárias de fornos durante a operação a altas temperaturas, a partir da inserção de pelo menos um dispositivo de medição de temperaturas (30) em um revestimento refratário (50) a ser monitorado para coletar dados de temperatura em uma porção interna do refratário (51); coletar dados de temperaturas de pelo menos um dispositivo de medição de temperaturas (30) por um aparelho de coleta e tratamento de dados (40); o aparelho de coleta e tratamento de dados (40) recebendo uma pluralidade de dados operacionais e a partir desses dados operacionais sendo responsável por: (iii) determinar continuamente um Número Adimensional Térmico (NAT) a partir da relação: NAT= T0/T1 em que T0 corresponde à temperatura de campanha e T1 corresponde à temperatura continuamente coletada da porção interna (51) do revestimento refratário (50) por meio de pelo menos um dispositivo de medição de temperaturas (30); e (ii) criar pelo menos um algoritmo correlacionando o Número Adimensional Térmico (NAT) com os dados operacionais resultando em um modelo de previsibilidade de espessura de residual refratário (10).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

30/06/2026

RPI 2895

Pedido de patente depositado

#2.1

03/06/2025

RPI 2839

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870240108619' em 19/12/2024 15:40 (WB)

31/12/2024

RPI 2817

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.