Patente de Invenção DISPOSITIVO E SISTEMA PARA MARCAÇÃO DE DEFEITOS EM ESTRUTURAS COM BASE EM IMAGENS DE ENSAIOS NÃO DESTRUTIVOS de BAWSF INSPEÇÕES E ENGENHARIA LTDA/BAWSF — IPC B05B 12/08. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
DISPOSITIVO E SISTEMA PARA MARCAÇÃO DE DEFEITOS EM ESTRUTURAS COM BASE EM IMAGENS DE ENSAIOS NÃO DESTRUTIVOS. A presente invenção se refere a um dispositivo e sistema para marcação de defeitos em estruturas com base em imagens de ensaios não destrutivos. O dispositivo de marcação inclui um suporte do acionador do spray, mecanismo acionador, LED de indicação, reservatório de tinta e uma conexão com o módulo de comando. O mecanismo de spray é ativado automaticamente ao detectar defeitos na superfície inspecionada, com base em imagens processadas de shearografia. O sistema compreende um sensor de shearografia, módulo de iluminação, dispositivo computacional e módulo de comando, que controla a inspeção e aciona o dispositivo de marcação. O dispositivo pode ser montado em um suporte, como um tripé ou módulo de fixação diretamente na estrutura analisada. O sistema processa e armazena dados, ajusta parâmetros de imagem e controla os lasers para garantir precisão na detecção e marcação dos defeitos identificados na estrutura.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Publicação do pedido de patente
#3.1
05/05/2026
RPI 2887
Pedido de patente depositado
#2.1
11/03/2025
RPI 2827
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo '870240090361' em 23/10/2024 08:55 (WB)
