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Patente de Invenção102024019318

SISTEMA DE MEDIÇÃO DE ESPESSURA DE MATERIAIS COM TRANSMISSÃO DE DADOS VIA LORA

SOLCERA DO BRASIL MATERIAIS AVANÇADOS LTDA

PublicadaIPC G01D 21/00

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Publicação31/03/26

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 19/09/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:19/09/2027(faltam 323 dias)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 31/03/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Dados técnicos

Resumo técnico

SISTEMA DE MEDIÇÃO DE ESPESSURA DE MATERIAIS COM TRANSMISSÃO DE DADOS VIA LORA. O sistema de acordo com o presente pedido consiste em um sistema de medição de espessura de materiais que utiliza a tecnologia LoRa (Long Range) para transmitir dados de forma eficiente e confiável. O sistema compreende: um sensor de espessura formado por uma matriz de diodos integrada em uma placa de circuito impresso, revestida com resina para proteção contra ambientes adversos; um processador configurado para receber e processar dados binários captados pelo sensor de espessura; uma rede LoRa operando na frequência de 915,5 MHz para transmitir os dados processados pelo processador; e um servidor em nuvem configurado para receber, tratar e com a possibilidade de apresentar os dados de espessura dos materiais em um dashboard para análise e monitoramento em tempo real.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

31/03/2026

RPI 2882

Publicação do pedido de patente

3.1

25/02/2025

RPI 2825

Pedido de patente depositado

2.1

01/10/2024

RPI 2804

Requerimento de pedido de patente

2.10

Número de Protocolo '870240080165' em 19/09/2024 15:02 (WB)