MÉTODO E FERRAMENTA COMPUTACIONAL BASEADOS EM APRENDIZADO DE MÁQUINA PARA GERAÇÃO DE PADRÕES TESTES INDIRETOS DE CIRCUITOS ANALÓGICOS E DE SINAL MISTO

Classificação IPC

Resumo técnico

MÉTODO E FERRAMENTA COMPUTACIONAL BASEADOS EM APRENDIZADO DE MÁQUINA PARA GERAÇÃO DE PADRÕES TESTES INDIRETOS DE CIRCUITOS ANALÓGICOS E DE SINAL MISTO. A presente invenção propõe um método baseado em aprendizado de máquina para a geração de padrões de testes de circuitos analógicos e de sinal misto (analógico e digital). O método é aplicável ao teste em produção ou testes em campo de circuitos integrados (chips), placas de circuitos eletrônicos ou sistemas eletrônicos que contenham circuitos analógicos e de sinal misto. O método consiste em, inicialmente, realizar um conjunto de simulações elétricas do circuito obtendo os valores simulados de tensões nodais, correntes, resposta em frequência e transiente de um conjunto de nós e malhas do circuito, considerando diferentes estímulos nas suas entradas e na tensão de alimentação, resultando em um conjunto de valores de tensões nodais em CA (corrente alternada) ou CC (corrente contínua), estáticos, ou variantes com o tempo e/ou com a frequência. Um conjunto de simulações das especificações funcionais aplicáveis ao teste funcional do circuito é também realizado. Estas simulações são realizadas considerando a variabilidade do processo de fabricação do circuito a ser testado, através de análise de Monte Carlo e Corners. Com o conjunto de dados gerados na etapa de simulação, modelos de aprendizado de máquina são treinados para relacionar as medições das tensões CA e CC dos nós do circuito com as especificações do circuito, configurando uma estratégia de teste indireto. Os modelos são avaliados e os de melhor desempenho são selecionados, resultando no apontamento de um conjunto de medições de baixo custo (tensões nodais) a realizar no circuito e uma lista de algoritmos de aprendizado de máquina e seus parâmetros importantes, para serem aplicados em uma estratégia de teste indireto, com o objetivo de prever as especificações do circuito sob teste através destas medidas indiretas de tensões nodais.