Publicação do pedido de patente
#3.1
15/04/2025
RPI 2832
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Dado oficial do INPI
MÉTODOS E SISTEMAS PARA PREVISÃO DE RENDIMENTO DE CULTIVO DE ALTA RESOLUÇÃO E DIMENSIONÁVEL
PublicadaPatente de Invenção
Dados do pedido
Número
102023012861Tipo
Patente de Invenção
Depósito
26/06/2023
Publicação
15/04/2025
Andamento no INPI
- Depósito26/06/23
- Publicação15/04/25
- Exame
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido publicado na RPI em 15/04/2025 e já visível a qualquer interessado. Segue para o exame técnico do INPI.
Última movimentação publicada pelo INPI: 15/04/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
TATA CONSULTANCY SERVICES LIMITED
IN
Inventores
A. P. (pessoa física)
IN
J. M. (pessoa física)
IN
R. A. (pessoa física)
IN
S. P. (pessoa física)
IN
S. S. (pessoa física)
IN
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
IN
202221041643 · 20/07/2022
Resumo técnico
MÉTODOS E SISTEMAS PARA PREVISÃO DE RENDIMENTO DE CULTIVO DE ALTA RESOLUÇÃO E DIMENSIONÁVEL. Esta descrição se refere a métodos e sistemas para previsão de rendimento de cultivo de alta resolução e dimensionável, primeiro desenvolvendo um primeiro modelo de previsão de rendimento de cultivo para gerar mapas de rendimento de resolução grosseira e adicionalmente selecionando de maneira dinâmica um conjunto de pixels dos mapas de rendimento de resolução grosseira. Os mapas de rendimento de resolução grosseira, dados relacionados a satélite, clima e solo são alimentados como entrada para uma segunda previsão de rendimento de cultivo para gerar mapas de previsão de rendimento de cultivo de alta resolução. Adicionalmente, o conhecimento do domínio sobre os estágios de crescimento dos cultivos, os estágios de crescimento dos cultivos economicamente importantes e os gatilhos baseados no clima são identificados para quantificar a extensão da mudança no rendimento dos cultivos. Isso ajuda na previsão de rendimento dos cultivos durante condições adversas de clima em tempo real. Finalmente, um modelo de rendimento de cultivo ajustado é obtido após o ajuste das perdas incorridas devido às condições adversas de clima em tempo real para obter mapas acurados de previsão de rendimento de cultivo de alta resolução. O método da presente descrição é barato, leve e dimensionável.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Pedido de patente depositado
#2.1
22/08/2023
RPI 2746
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo '870230055172' em 26/06/2023 18:16 (WB)
04/07/2023
RPI 2739
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