SISTEMA E MÉTODO NÃO INVASIVO PARA A OBTENÇÃO DE SINAIS E DOCUMENTAÇÃO DE MÉTRICAS DE APRENDIZADO, EQUIPAMENTO PARA AUXILIAR O DESENVOLVIMENTO DO APRENDIZADO

Classificação IPC

Resumo técnico

SISTEMA E MÉTODO NÃO INVASIVO PARA A OBTENÇÃO DE SINAIS E DOCUMENTAÇÃO DE MÉTRICAS DE APRENDIZADO, EQUIPAMENTO PARA AUXILIAR O DESENVOLVIMENTO DO APRENDIZADO. A invenção se situa no campo da Pedagogia e de Sistemas para suporte de aprendizagem. Mais especificamente, a invenção descreve um sistema e um método para a obtenção de sinais e documentação de métricas de aprendizado de seres humanos e para selecionar desafios cognitivos ou tarefas de aprendizado ao indivíduo; e um equipamento para auxiliar o desenvolvimento do aprendizado. O método da invenção é aqui chamado de Seeing How You Learn e compreende: um método não invasivo para a captura de sinais fisiológicos, metabólicos ou físicos relacionados ao esforço cognitivo do indivíduo; o processamento dos referidos sinais e a documentação dos mesmos e/ou a geração de métricas ou índices a partir dos mesmos; e um sistema de feedback que faz uso dos referidos sinais, métricas ou índices como critério de seleção de conteúdo de aprendizado a ser disponibilizado ao indivíduo. A invenção é particularmente útil para: prover indicadores confiáveis dos esforços de aprendizado; melhorar o processo de aprendizado individual, mesmo quando em programas coletivos de ensino; prover um repositório ou base de dados de sinais fisiológicos, metabólicos ou físicos relacionados ao esforço cognitivo do indivíduo, e/ou de métricas ou índices gerados a partir de tais sinais; prover um repositório ou base de dados de evolução individual de aprendizado para cada conteúdo apresentado