Publicação do pedido de patente
#3.1
10/10/2023
RPI 2753
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Dado oficial do INPI
MÉTODO PARA APLICAR VALOR DE REFERÊNCIA DE CONTROLE AO ANALISADOR DE AMOSTRA, ANALISADOR DE AMOSTRA E PROGRAMA DE COMPUTADOR
PublicadaPatente de Invenção
Dados do pedido
Número
102023002970Tipo
Patente de Invenção
Depósito
16/02/2023
Publicação
10/10/2023
Andamento no INPI
- Depósito16/02/23
- Publicação10/10/23
- Exame
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido publicado na RPI em 10/10/2023 e já visível a qualquer interessado. Segue para o exame técnico do INPI.
Última movimentação publicada pelo INPI: 10/10/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
S. C. (pessoa física)
JP
Inventores
D. F. (pessoa física)
JP
F. H. (pessoa física)
JP
K. K. (pessoa física)
JP
K. S. (pessoa física)
JP
T. K. (pessoa física)
JP
Y. N. (pessoa física)
JP
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
JP
2022-030425 · 28/02/2022
Resumo técnico
MÉTODO PARA APLICAR VALOR DE REFERÊNCIA DE CONTROLE AO ANALISADOR DE AMOSTRA, ANALISADOR DE AMOSTRA E PROGRAMA DE COMPUTADOR.Para fazer com que um valor de referência de controle seja determinado de forma mais eficiente e aplicado a um analisador de amostra em uma instalação de teste. Este método para aplicar um valor de referência de controle a um analisador de amostra é um método para aplicar um valor de referência de controle referente a uma amostra de controle de qualidade a um analisador de amostra por um computador. O método inclui: gerar o valor de referência de controle com base em um resultado de medição da amostra de controle de qualidade medida pelo analisador de amostras; e aplicar o valor de referência de controle ao analisador de amostra.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Pedido de patente depositado
#2.1
07/03/2023
RPI 2722
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo '870230013934' em 16/02/2023 14:54 (WB)
28/02/2023
RPI 2721
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