Patente de Invenção DISPOSITIVO E MÉTODO ÓPTICO-MECÂNICO PARA MEDIÇÃO TRIDIMENSIONAL DE PERFIS LONGITUDINAIS E SISTEMA DE CONTROLE E POSICIONAMENTO DO DISPOSITIVO de UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP — IPC G01B 11/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
DISPOSITIVO E MÉTODO ÓPTICO-MECÂNICO PARA MEDIÇÃO TRIDIMENSIONAL DE PERFIS LONGITUDINAIS E SISTEMA DE CONTROLE E POSICIONAMENTO DO DISPOSITIVO.A presente invenção se refere a um Dispositivo e Método óptico-mecânico para medição tridimensional de perfislongitudinais e um sistema de controle e posicionamento. O método utiliza apenas um plano de laser e uma câmerafotográfica para a caracterização geométrica e reconstrução tridimensional de perfis longitudinais de seção transversal constante ou não. As imagens sequenciais capturadas são espaçadas ao longo da peça graças ao movimento de translação do sistema óptico (câmera e laser) ao longo da peça por meio do sistema de controle e posicionamento. A reconstrução da seção transversal da peça é efetuada pelo movimento de rotação relativo entre sistema óptico e peça medida. A obtenção dos dados dimensionais da peça ocorre via processo de calibração após a fixação dos elementos ópticos. Assim, a invenção permite aplicação em laboratório ou em campo. Além disso, permite a aplicação do método de medição em instrumentos/ferramentas industriais já existentes no .mercado.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Publicação do pedido de patente
#3.1
10/10/2023
RPI 2753
Pedido de patente depositado
#2.1
03/05/2022
RPI 2678
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo '870220027732' em 31/03/2022 10:22 (WB)
