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Dado oficial do INPI

PROCESSO PARA CARACTERIZAÇÃO TOPOLÓGICA DA EDIFICAÇÃO POR MEIO DE COLETA DE DADOS POR SUPERFÍCIE DO RECINTO INCLUINDO CONDIÇÕES DE CONTORNO

Arquivada/ExtintaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção PROCESSO PARA CARACTERIZAÇÃO TOPOLÓGICA DA EDIFICAÇÃO POR MEIO DE COLETA DE DADOS POR SUPERFÍCIE DO RECINTO INCLUINDO CONDIÇÕES DE CONTORNO de ETIZ LTDA — IPC G01B 21/00
Patente de Invenção PROCESSO PARA CARACTERIZAÇÃO TOPOLÓGICA DA EDIFICAÇÃO POR MEIO DE COLETA DE DADOS POR SUPERFÍCIE DO RECINTO INCLUINDO CONDIÇÕES DE CONTORNO de ETIZ LTDA — IPC G01B 21/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102022004878

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

16/03/2022

Publicação

19/09/2023

Andamento no INPI

  1. Depósito16/03/22
  2. Publicação19/09/23
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 22/07/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ETIZ LTDA

SP, BR

Inventores

Sem inventores informados.

Dados técnicos

Resumo técnico

PROCESSO PARA CARACTERIZAÇÃO TOPOLÓGICA DA EDIFICAÇÃO POR MEIO DE COLETA DE DADOS POR SUPERFÍCIE DO RECINTO INCLUINDO CONDIÇÕES DE CONTORNO. Refere-se a um processo para o levantamento in loco da topologia de cada recinto de um edifício (tamanho e posição de paredes, portas, janelas e as condições de contorno de cada superfície), sem a necessidade de gerar elementos gráficos tais como plantas, cortes, elevações e sem a necessidade de equipamento de mapeamento por imagem ou laser. O processo é implementado em aplicativo para dispositivo móvel. O processo se dá pelo tratamento de cada parede do edifício como a unidade de coleta de dados. O processo aborda iterativamente cada recinto do edifício. Em cada recinto, para cada parede, a pessoa responsável pela coleta descreve o comprimento, ângulo em relação à parede adjacente, e o que se encontra do outro lado da parede. Caso a parede contenha aberturas, tais como portas e janelas, as mesmas são descritas pela sua largura e comprimento, e parede à qual estão associadas. O processo é repetido até que todas as paredes de todos os recintos tenham sido descritas, criando uma completa descrição topológica do edifício. O presente invento reduz substancialmente o tempo necessário para a descrição da geometria de um edifício existente, facilitando a certificação energética de edifícios, a produção de modelos BIM, a inspeção de edifícios frente à requisitos normativos diversos que exijam dados topológicos. A presente invenção não requer equipamentos especiais, usando somente uma trena(analógica ou wireless) e um meio para registro das informações coletadas. Permite que a emissão do certificado energético seja feita em minutos após a inspeção in loco, uma vez que a topologia do edifício e as áreas correspondentes aos elementos de vedação são os principiais gargalos no processo de descrição do edifício para fins de certificação energética. A inovação torna possível a criação automática nãosupervisionada de modelos de simulação dinâmica de energia. Permite que a coleta de dados in loco seja feita por uma pessoa com pouco treinamento, sem a necessidade de um projetista para produzir plantas, cortes, elevações e/ou um modelo BIM.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2828 de 18/03/2025.

22/07/2025

RPI 2846

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 3ª anuidade.

18/03/2025

RPI 2828

Publicação do pedido de patente

#3.1

19/09/2023

RPI 2750

Pedido de patente depositado

#2.1

05/04/2022

RPI 2674

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870220022579' em 16/03/2022 15:07 (WB)

29/03/2022

RPI 2673

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