Publicação do pedido de patente
#3.1
20/06/2023
RPI 2737
Dados do pedido
Número
102021024519Tipo
Depósito
Publicação
Pedido publicado na RPI em 20/06/2023 e já visível a qualquer interessado. Segue para o exame técnico do INPI.
Última movimentação publicada pelo INPI: 20/06/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A.
MG, BR
SERVIÇO NACIONAL DE APRENDIZAGEM INDUSTRIAL, DEPARTAMENTO REGIONAL DA BAHIA - SENAI/DR/BA
BA, BR
U. G. (pessoa física)
MG, BR
Inventores
A. V. (pessoa física)
BR
B. Y. (pessoa física)
BR
C. S. (pessoa física)
BR
D. N. (pessoa física)
BR
E. R. (pessoa física)
BR
H. M. (pessoa física)
BR
J. S. (pessoa física)
BR
L. G. (pessoa física)
BR
L. C. (pessoa física)
BR
M. B. (pessoa física)
BR
R. P. (pessoa física)
BR
V. S. (pessoa física)
BR
V. B. (pessoa física)
BR
V. M. (pessoa física)
BR
Classificação IPC
Resumo técnico
SISTEMA DE VARREDURA POR SONDA. Apresenta-se um sistema de varredura de amostras por sonda formado por uma cabeça de varredura, sistemas de posicionamento, um porta-amostras, um sistema de microscopia óptica e uma base maciça que integra todos os componentes. A tecnologia utiliza as técnicas de acoplamento cinemático (Ex.: "Kelvin Coupling") e construção monolítica para propiciar a movimentação de sondas dotadas de ápice nanométrico com resolução subnanométrica, controlando sua posição e orientação com relação à amostra, bem como, simultaneamente, mantendo seu alinhamento a uma possível fonte luminosa externa. O sistema permite de forma satisfatória o acoplamento elétrico e a compatibilidade eletromagnética entre suas partes constituintes. A tecnologia apresenta atributos para versatilidade do acoplamento da sonda com a cabeça de varredura facilitando a substituição e a manutenção destes elementos e a alternância entre os modos de interação da sonda com a amostra. A tecnologia aplica-se à microscopia de varredura por sonda (SPM - do inglês "Scanning probe microscopy"), por exemplo: Microscopia óptica de varredura de campo próximo (SNOM - "Scanning near field optical microscopy), Espectroscopia Raman amplificada por sonda (TERS - "tip enhanced Raman spectroscopy") e outras técnicas.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#3.1
20/06/2023
RPI 2737
#25.1
18/04/2023
RPI 2728
#25.3
A fim de atender a transferência de parte dos direitos, requerida através da petição nº 870220091571 de 06/10/2022, é necessário apresentar documento que comprove que os representantes da segunda depositante tem poderes para realizar tal ato. Além disso, é preciso apresentar a guia de cumprimento de exigência.
14/02/2023
RPI 2719
#2.1
25/01/2022
RPI 2664
#2.10
Número de Protocolo '870210112542' em 03/12/2021 15:27 (WB)
14/12/2021
RPI 2658
Do mesmo titular
Da mesma categoria
Monitoramento de patentes
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.