SISTEMA PARA POSICIONAMENTO DE AMOSTRAS E FONTES RADIOATIVAS SOBRE A JANELA DE DETECÇÃO DE ESPECTRÔMETROS GAMA

Classificação IPC

Resumo técnico

SISTEMA PARA POSICIONAMENTO DE AMOSTRAS E FONTES RADIOATIVAS SOBRE A JANELA DE DETECÇÃO DE ESPECTRÔMETROS GAMA. A presente invenção se refere a um sistema de posicionamento de amostras e fontes radioativas sobre a janela de detecção de espectrômetros gama, a fim de aumentar sua eficiência de detecção. Para determinação da eficiência de calibração de espectrômetro gama o posicionamento geométrico, bem como a densidade das fontes e amostras influencia grandemente no número de decaimentos absorvidos pelo detector. O posicionamento centralizado com ângulo sólido produz uma distribuição radioativa homogênea ao longo do volume da janela de detecção gerando melhor grau de interação da radiação com o cristal do detector, dessa forma os espectros gerados apresentam resultados melhores com baixa presença de efeito de pico soma e interferências de fundo. O sistema para posicionamento evita que sejam feitas modelagens matemáticas e simplifica a expressão para cálculo do fator de correção geométrica. Além disso, o sistema é construído em material de baixa densidade a fim de não comprometer a absorção radioativa pela janela de detecção, podendo também aumentar o distanciamento da amostra para com a janela sem alterar a posição centralizada e o ângulo sólido. Ele também apresenta uma fina superfície de separação entre a amostra e a janela do detector, para além de proteger a janela evitar a leitura exatamente acima dela, evitando elevação do tempo morto e contagens radioativas duplicadas por efeitos de soma de picos radioativos.