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Dado oficial do INPI

SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO de ADIGE S.P.A. — IPC B23K 26/03
Patente de Invenção SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO de ADIGE S.P.A. — IPC B23K 26/03. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102021006214

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

31/03/2021

Publicação

03/03/2022

Andamento no INPI

  1. Depósito31/03/21
  2. Publicação03/03/22
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 07/07/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ADIGE S.P.A.

IT

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Inventores

B. P. (pessoa física)

IT

S. D. (pessoa física)

IT

Dados técnicos

Prioridades unionistas

IT

102020000006880 · 01/04/2020

Resumo técnico

SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO.É descrito um sistema óptico combinado para determinar a temperatura da superfície de um objeto ou material e sua distância de um ponto de referência predeterminado associado ao sistema, compreendendo uma fonte de irradiação óptica projetada para emitir pelo menos uma irradiação de sonda óptica em um comprimento de onda predeterminado ou em uma faixa predeterminada de comprimentos de onda, uma unidade de controle da fonte projetada para controlar alternadamente a comutação da fonte de uma condição operacional na qual emite irradiação óptica para uma condição não operacional na qual não emite irradiação óptica da sonda, detectores ópticos projetados para adquirir ao menos uma emissão óptica difusa e uma irradiação óptica termicamente emitidas a partir da superfície do objeto ou material, e uma unidade de processamento sincronizada com a unidade de controle deve ser preparada para determinar a distância da superfície do objeto ou material com base na emissão óptica da sonda difundida a parir da superfície do objeto ou material e recebida pelos meios detectores quando a fonte estiver operacional e determinar a temperatura local da superfície do objeto ou material com base na irradiação óptica da emissão térmica a partir da superfície do objeto ou material recebido pelos detectores quando a fonte não estiver operacional.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

07/07/2026

RPI 2896

Parecer de pré-exame

#6.23

24/03/2026

RPI 2881

Publicação do pedido de patente

#3.1

03/03/2022

RPI 2669

Pedido de patente depositado

#2.1

15/06/2021

RPI 2632

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870210029910' em 31/03/2021 09:03 (WB)

20/04/2021

RPI 2624

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