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Dado oficial do INPI

PROCESSO E SISTEMA PARA A DETERMINAÇÃO DA DISTÂNCIA QUE SEPARA UM CORPO E A SUPERFÍCIE DE UM OBJETO ATRAVÉS DA TÉCNICA DE INTERFEROMETRIA ÓTICA COM BAIXA COERÊNCIA EM REGIME DE DISTORÇÃO DE SUBAMOSTRAGEM

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102020024966

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

07/12/2020

Publicação

27/07/2021

Andamento no INPI

  1. Depósito07/12/20
  2. Publicação27/07/21
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 07/12/2020, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 05/03/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ADIGE S.P.A

IT

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Inventores

B. P. (pessoa física)

IT

D. C. (pessoa física)

IT

S. D. (pessoa física)

IT

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

IT

102019000023202 · 06/12/2019

Resumo técnico

PROCESSO E SISTEMA PARA A DETERMINAÇÃO DA DISTÂNCIA QUE SEPARA UM CORPO E A SUPERFÍCIE DE UM OBJETO ATRAVÉS DA TÉCNICA DE INTERFEROMETRIA ÓTICA COM BAIXA COERÊNCIA EM REGIME DE DISTORÇÃO DE SUBAMOSTRAGEM. É descrito um processo e um sistema para determinar a distância que separa um objeto ou um material e uma ferramenta de trabalho ou um instrumento de medição do objeto ou material que contém:-a geração de um feixe de emissão ótica de baixa coerência de medição, a condução do feixe de medição em direção ao objeto, e a condução do feixe de medição refletido ou difundido pelo objeto em direção a uma disposição de sensoriamento ótico de interferometria ao longo de uma primeira direção de incidência;-a geração de um feixe de emissão ótica de baixa coerência de medição, a condução do feixe de referência em direção a disposição de sensoriamento de interferometria ao longo de uma segunda direção de incidência, em um ângulo de incidência predeterminado com relação a primeira direção de incidência do feixe de medição; -a sobreposição do feixe de medição e do feixe de referência sobre uma região de incidência comum da disposição de sensoriamento; -a detecção da posição do motivo de franjas de interferência entre o feixe de medição e o feixe de referência sobre a região de incidência; e - a determinação de uma diferença entre o comprimento ótico entre o percurso ótico de medição e o percurso ótico de referência em função da posição do motivo de franjas de interferência ao longo do eixo de iluminação da região de incidência, a qual é indicativa de uma diferença entre (a) a distância que separa no momento uma ferramenta de trabalho ou o instrumento de medição e a superfície do objeto e (b) a distância de separação nominal predeterminada, sendo que a disposição de sensoriamento compreende uma disposição de foto-sensores, e o ângulo de incidência é controlado de tal forma que para quanto maior a frequência espacial do motivo de franjas de interferência maior é a frequência espacial dos foto-sensores.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

05/03/2024

RPI 2774

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

19/12/2023

RPI 2763

Publicação do pedido de patente

#3.1

27/07/2021

RPI 2638

Pedido de patente depositado

#2.1

09/03/2021

RPI 2618

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870200153807' em 07/12/2020 16:36 (WB)

15/12/2020

RPI 2606

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