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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA DETECÇÃO E DIAGNÓSTICO DE FALHAS BASEADO EM ANÁLISE DE ERROS RESIDUAIS OBTIDOS POR MODELOS DE DETECÇÃO DE ANOMALIA NÃO SUPERVISIONADA

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO PARA DETECÇÃO E DIAGNÓSTICO DE FALHAS BASEADO EM ANÁLISE DE ERROS RESIDUAIS OBTIDOS POR MODELOS DE DETECÇÃO DE ANOMALIA NÃO SUPERVISIONADA de UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP — IPC G06F 11/34
Patente de Invenção MÉTODO PARA DETECÇÃO E DIAGNÓSTICO DE FALHAS BASEADO EM ANÁLISE DE ERROS RESIDUAIS OBTIDOS POR MODELOS DE DETECÇÃO DE ANOMALIA NÃO SUPERVISIONADA de UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP — IPC G06F 11/34. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102020020676

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

08/10/2020

Publicação

19/04/2022

Andamento no INPI

  1. Depósito08/10/20
  2. Publicação19/04/22
  3. Exame
  4. Deferimento16/09/25
  5. Concessão28/10/25
  6. Em vigor08/10/40

Patente concedida em 28/10/2025 e em vigor até 08/10/2040. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:08/10/2040

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Última movimentação publicada pelo INPI: 28/10/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP

SP, BR

VALE S.A.

RJ, BR

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

A. N. (pessoa física)

BR

D. N. (pessoa física)

BR

J. J. (pessoa física)

BR

J. J. (pessoa física)

BR

L. A. (pessoa física)

BR

L. V. (pessoa física)

BR

M. N. (pessoa física)

BR

P. C. (pessoa física)

BR

R. G. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

MÉTODO PARA DETECÇÃO E DIAGNÓSTICO DE FALHAS BASEADO EM ANÁLISE DE ERROS RESIDUAIS OBTIDOS POR MODELOS DE DETECÇÃO DE ANOMALIA NÃO SUPERVISIONADA.A presente invenção provê um método para detecção e diagnóstico de falhas baseado em análise de erros residuais obtidos por modelos de detecção de anomalia não supervisionada compreendendo as etapas de (A) detecção de falha, e (B) diagnóstico de falha, em que:a etapa de (A) detecção de falha compreender um detector de anomalia implementado com métodos de aprendizado de máquina não supervisionado baseados em técnicas de reconstrução de entrada, adaptado para detectar, por classificação binária definida por limites residuais, se uma instância i de entrada x_i é uma anomalia, além de fornecer à etapa (B) os valores de entrada original, x_i e reconstituídos, ¿x'¿_i, da instância i; ea etapa de (B) diagnóstico de falha compreende utilizar o método de interpretabilidade definido porR_im=(log(1+!z_im !) (x_im-x_im^' )^2)/(¿_(k=1)^M¦¿log(1+!z_ik !) (x_ik-x_ik^' )^2 ¿)para obter as explicações sobre o resultado obtido na etapa (A), em que é quantificada a relevância R_im, no qual R_im¿[0;1], de cada parâmetro m¿M da instância de entrada específica i, x_im, na decisão de i como anomalia pela etapa (A).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 08/10/2020, observadas as condições legais

28/10/2025

RPI 2860

Deferimento

#9.1

16/09/2025

RPI 2854

Publicação do pedido de patente

#3.1

19/04/2022

RPI 2676

Pedido de patente depositado

#2.1

26/01/2021

RPI 2612

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870200127104' em 08/10/2020 14:14 (WB)

20/10/2020

RPI 2598

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