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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE TEORES DE ELEMENTOS MINERAIS, E MOLÉCULAS ORGÂNICAS, POR ESPECTROMETRIA POR FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X POR ENERGIA DISPERSIVA - EDXRF

Em AnálisePatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE TEORES DE ELEMENTOS MINERAIS, E MOLÉCULAS ORGÂNICAS, POR ESPECTROMETRIA POR FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X POR ENERGIA DISPERSIVA - EDXRF de FARMRESULT PRESTAÇÃO DE SERVIÇOS LTDA. - ME — IPC G01N 23/223
Patente de Invenção MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE TEORES DE ELEMENTOS MINERAIS, E MOLÉCULAS ORGÂNICAS, POR ESPECTROMETRIA POR FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X POR ENERGIA DISPERSIVA - EDXRF de FARMRESULT PRESTAÇÃO DE SERVIÇOS LTDA. - ME — IPC G01N 23/223. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102020006787

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

03/04/2020

Publicação

19/10/2021

Andamento no INPI

Em recurso
  1. Depósito03/04/20
  2. Publicação19/10/21
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O pedido está em fase de recurso: o INPI ainda vai rever a decisão.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 08/07/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

FARMRESULT PRESTAÇÃO DE SERVIÇOS LTDA. - ME

SP, BR

Inventores

E. A. (pessoa física)

BR

F. M. (pessoa física)

BR

H. C. (pessoa física)

BR

M. G. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE TEORES DE ELEMENTOS MINERAIS, E MOLÉCULAS ORGÂNICAS, POR ESPECTROMETRIA POR FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X POR ENERGIA DISPERSIVA EDXRF. Trata-se a presente invenção de um método voltado para o Agronegócio, com o objetivo de quantificar de forma direta, os teores de elementos minerais, tais como Mg, Si, P, S, Ca, K, Ti, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn e Se, e de forma indireta moléculas orgânicas (proteínas, açúcares e carboidratos), com destaque para as culturas da cana de açúcar, soja, milho e café, dentre outras, empregando-se a técnica de EDXRF associada a análise estatística multivariada. O presente método utiliza EDXRF com excitação por tubo de raios X de Rh, Ag, W, Mo, Cr ou Cu, na tensão e corrente entre 0-50 kV e 0-2000 µA, respectivamente. A detecção dos raios X fluorescentes é realizada por detectores semicondutores, como o Si(Li), Si-PIN ou SDD. O detector de raios X discrimina e conta os raios X emitidos pela amostra, obtendo-se assim um espectro de raios X. Através da interpretação dos espectros, seja pela fluorescência específica emitida por um elemento inorgânico, seja por uma região espectral específica que pode incluir o espalhamento dos raios X, determinam-se os parâmetros inorgânicos e orgânicos presentes nas amostras.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Petição de recurso

#12.2

Recurso: 870250053995 - 26/6/2025

08/07/2025

RPI 2844

Indeferimento

#9.2

29/04/2025

RPI 2834

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

07/01/2025

RPI 2818

Publicação do pedido de patente

#3.1

19/10/2021

RPI 2650

Pedido de patente depositado

#2.1

18/08/2020

RPI 2589

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

07/07/2020

RPI 2583

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870200043159' em 03/04/2020 14:40 (WB)

14/04/2020

RPI 2571

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