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Dado oficial do INPI

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO DA SUPERFÍCIE DE UMA FITA EM MOVIMENTO

ArquivadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção PROCESSO E DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO DA SUPERFÍCIE DE UMA FITA EM MOVIMENTO de THYSSENKRUPP RASSELSTEIN GMBH — IPC G01N 21/89
Patente de Invenção PROCESSO E DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO DA SUPERFÍCIE DE UMA FITA EM MOVIMENTO de THYSSENKRUPP RASSELSTEIN GMBH — IPC G01N 21/89. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102020001531

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/01/2020

Publicação

03/11/2020

Andamento no INPI

  1. Depósito23/01/20
  2. Publicação03/11/20
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 23/01/2020, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 18/07/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

THYSSENKRUPP RASSELSTEIN GMBH

DE

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Inventores

J. K. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

DE

10 2019 107 174.7 · 20/03/2019

Resumo técnico

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO DA SUPERFÍCIEDE UMA FITA EM MOVIMENTO. A invenção refere-se a um processo para inspeção de pelo menos uma superfície de uma fita (B) em movimento em um sentido de deslocamento de fita (v) por um inspetor (I), sendo que a superfície da fita (B) é irradiada com pelo menos uma primeira fonte de luz (1, 1') e uma segunda fonte de luz (2,2') e sendo que a primeira fonte de luz (1, '1) emite luz, sob uma primeira faixa de ângulo irradiação ( 1), sobre uma primeira região de superfície (H) e a segunda fonte de luz (2, 2') emite luz, sob uma segunda faixa de ângulo de irradiação ( 2), sobre uma segunda região de superfície (D) da superfície da fita (B), e a primeira fonte de luz (1, 1') e a segunda fonte de luz (2, 2') são operadas com uma frequência de pulsos (f) predeterminada de modo pulsado alternadamente, de maneira que a superfície da fita (B) é irradiada alternadamente na primeira região de superfície (H) e na segunda região de superfície (D), e a primeira região de superfície (H) irradiada pela primeira fonte de luz (1, 1') e a segunda região de superfície (D) irradiada pela segunda fonte de luz (2,2 ') podem ser observadas pelo inspetor (I) através do espelho (4, 4') no campo escuro.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

18/07/2023

RPI 2741

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

02/05/2023

RPI 2730

Publicação do pedido de patente

#3.1

03/11/2020

RPI 2600

Pedido de patente depositado

#2.1

23/06/2020

RPI 2581

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870200011169' em 23/01/2020 18:39 (WB)

04/02/2020

RPI 2561

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