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Dado oficial do INPI

MÉTODO E APARELHO PARA DESMOLDAGEM E ANÁLISE DE UMA AMOSTRA PARA ANÁLISE DIRETA

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO E APARELHO PARA DESMOLDAGEM E ANÁLISE DE UMA AMOSTRA PARA ANÁLISE DIRETA de HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V. — IPC G01N 1/28
Patente de Invenção MÉTODO E APARELHO PARA DESMOLDAGEM E ANÁLISE DE UMA AMOSTRA PARA ANÁLISE DIRETA de HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V. — IPC G01N 1/28. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102019025301

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

29/11/2019

Publicação

10/11/2020

Andamento no INPI

  1. Depósito29/11/19
  2. Publicação10/11/20
  3. Exame
  4. Deferimento09/07/24
  5. Concessão24/09/24
  6. Em vigor29/11/39

Patente concedida em 24/09/2024 e em vigor até 29/11/2039. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:29/11/2039

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Última movimentação publicada pelo INPI: 24/09/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V.

BE

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Inventores

J. C. (pessoa física)

BE

J. V. (pessoa física)

BE

Dados técnicos

Prioridades unionistas

EP

19156339.4 · 11/02/2019

Resumo técnico

A presente invenção refere-se a um aparelho para desmoldagem e análise de uma amostra para análise direta formada a partir de um material de metal fundido contido dentro de um conjunto de câmara de amostra, em que o conjunto da câmara de amostra compreende pelo menos um nicho de amostra, uma placa de cobertura e meios de fechamento que compreendem: um gabinete que define um interior e que compreende pelo menos uma abertura para o nicho de amostra entrar no gabinete e meios de análise localizados dentro do gabinete para analisar uma superfície para análise da amostra; meios de desmoldagem adaptados para remover pelo menos os meios de fechamento para expor pelo menos parte da superfície para análise da amostra; e meios de transporte adaptados para reter e transportar o nicho de amostras pelo menos entre uma posição de desmoldagem de amostras; em que os meios de fechamento são removidos pelos meios de desmoldagem; e uma posição para análise de amostra, em que a superfície para análise da amostra é analisada pelos meios de análise e em que a posição de desmoldagem da amostra e a posição para análise da amostra são diferentes uma da outra. A invenção também refere-se a um sistema e método para desmoldar e analisar uma amostra para análise direta.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 29/11/2019, observadas as condições legais

24/09/2024

RPI 2803

Deferimento

#9.1

09/07/2024

RPI 2792

Parecer de pré-exame

#6.23

26/03/2024

RPI 2777

Publicação do pedido de patente

#3.1

10/11/2020

RPI 2601

Pedido de patente depositado

#2.1

12/05/2020

RPI 2575

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870190125511' em 29/11/2019 14:09 (WB)

10/12/2019

RPI 2553

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