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Dado oficial do INPI

CÉLULA ELETROQUÍMICA PARA ESPECTROSCOPIA DE INFRAVERMELHO, ESPECTRÔMETRO UTILIZANDO A MESMA E SISTEMA DE ESPECTROSCOPIA DE INFRAVERMELHO

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102019001293

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

22/01/2019

Publicação

04/08/2020

Andamento no INPI

  1. Depósito22/01/19
  2. Publicação04/08/20
  3. Exame
  4. Deferimento23/01/24
  5. Concessão09/04/24
  6. Em vigor22/01/39

Patente concedida em 09/04/2024 e em vigor até 22/01/2039. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:22/01/2039

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Última movimentação publicada pelo INPI: 09/04/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP

SP, BR

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Inventores

F. C. (pessoa física)

BR

L. M. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

CÉLULA ELETROQUÍMICA PARA ESPECTROSCOPIA DE INFRAVERMELHO,ESPECTRÔMETRO UTILIZANDO A MESMA E SISTEMA DEESPECTROSCOPIA DE INFRAVERMELHOA presente invenção se insere na área da química, maisespecificamente na área de química analítica, eparticularmente descreve uma célula eletroquímica paraespectroscopia infravermelho destinada à análise dasmudanças vibracionais de componentes químicos presentes nasuperfície de eletrodos, por microscopia de infravermelhomultiplex.Assim, a presente invenção prevê uma célulaeletroquímica (2) para espectroscopia de infravermelho deacordo com a presente invenção compreende um eletrodo detrabalho (21); um eletrodo de referência (22); um contraeletrodo (23); uma janela ótica (25); uma camada deeletrólito (29); suportes (26); e uma base de fixação (27);em que o eletrodo de referência (22) e o contra-eletrodo(23) são fixados na base de fixação (27) por meio dossuportes (26), o eletrodo de referência (22) e o contraeletrodo (23) sendo posicionados horizontalmente à base defixação (27); em que a camada de eletrólito (29) possui umaespessura entre o eletrodo de trabalho (21) e a janela ótica(25); e em que a janela ótica (25) é movimentada em relaçãoà base de fixação (27) e é configurada de modo a modificara espessura da camada de eletrólito (29).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 22/01/2019, observadas as condições legais

09/04/2024

RPI 2779

Deferimento

#9.1

23/01/2024

RPI 2768

Publicação do pedido de patente

#3.1

04/08/2020

RPI 2587

Pedido de patente depositado

#2.1

02/04/2019

RPI 2517

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

12/02/2019

RPI 2510

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870190007014' em 22/01/2019 23:04 (WB)

29/01/2019

RPI 2508

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