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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE AVALIAÇÃO DO DISPOSITIVO DE ARMAZENAMENTO DE ENERGIA, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO DISPOSITIVO DE ARMAZENAMENTO DE ENERGIA, E SISTEMA DE TESTE

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO DE AVALIAÇÃO DO DISPOSITIVO DE ARMAZENAMENTO DE ENERGIA, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO DISPOSITIVO DE ARMAZENAMENTO DE ENERGIA, E SISTEMA DE TESTE — IPC H01G 13/00
Patente de Invenção MÉTODO DE AVALIAÇÃO DO DISPOSITIVO DE ARMAZENAMENTO DE ENERGIA, MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO DISPOSITIVO DE ARMAZENAMENTO DE ENERGIA, E SISTEMA DE TESTE — IPC H01G 13/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102018074089

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/11/2018

Publicação

25/06/2019

Andamento no INPI

  1. Depósito23/11/18
  2. Publicação25/06/19
  3. Exame
  4. Deferimento02/04/24
  5. Concessão25/06/24
  6. Em vigor23/11/38

Patente concedida em 25/06/2024 e em vigor até 23/11/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:23/11/2038

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Depositantes e inventores

Depositantes

T. K. (pessoa física)

JP

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Inventores

K. M. (pessoa física)

JP

S. H. (pessoa física)

JP

T. K. (pessoa física)

JP

Y. I. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2017-229128 · 29/11/2017

Resumo técnico

A presente invenção refere-se a um método de avaliação de um dispositivo de armazenamento de energia que inclui pelo menos [a] a [f] abaixo. [a] Um dispositivo de armazenamento de energia (101) é preparado. [b] Um nível de carga do dispositivo de armazenamento de energia (101) é ajustado para produzir uma primeira diferença de potencial entre um eletrodo positivo (10) e um eletrodo negativo (20). [c] O eletrodo positivo (10) ou o eletrodo negativo (20) é selecionado como um eletrodo de referência. [d] Após o nível de carga ser ajustado, uma operação para inserir um elemento condutivo em formato de haste (1) em uma porção de pilha (50) ao longo de uma direção de empilhamento do eletrodo positivo (10) e do eletrodo negativo (20) é realizada enquanto uma segunda diferença de potencial entre o eletrodo de referência e o elemento em formato de haste (1) é medida. [e] O elemento em formato de haste (1) está parado. [f] O dispositivo de armazenamento de energia (101) é avaliado com base em um estado do dispositivo de armazenamento de energia (101) após o elemento em formato de barra (1) ser parado.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 23/11/2018, observadas as condições legais

25/06/2024

RPI 2790

Deferimento

#9.1

02/04/2024

RPI 2778

Parecer de pré-exame

#6.23

17/05/2022

RPI 2680

Publicação do pedido de patente

#3.1

25/06/2019

RPI 2529

Pedido de patente depositado

#2.1

18/12/2018

RPI 2502

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870180154157' em 23/11/2018 10:50 (WB)

04/12/2018

RPI 2500

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