Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
03/11/2021
RPI 2652
Dados do pedido
Número
102018009002Tipo
Depósito
Publicação
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 03/05/2018, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 03/11/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
FEI COMPANY
US
Inventores
A. H. (pessoa física)
NL
A. G. (pessoa física)
NL
G. W. (pessoa física)
NL
G. S. (pessoa física)
US
K. L. (pessoa física)
US
M. B. (pessoa física)
NL
P. T. (pessoa física)
NL
P. D. (pessoa física)
NL
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
15/586,194 · 03/05/2017
Resumo técnico
Um microscópio de partículas carregadas que compreende:- Um invólucro de vácuo;- Uma fonte, para produzir um feixe de partículas carregadas;- Um suporte de amostras, para suportar uma amostra;- Um iluminador, propiciado entre a referida fonte e o referido suporte de amostras, e que compreende em uma direção de propagação do referido feixe:· Uma lente fonte;· Um sistema condensador;- Um detector, para detectar radiação emanada da amostra em resposta à irradiação pelo referido feixe,em que a referida lente fonte é uma lente composta que compreende, na referida direção de propagação:- Uma lente magnética, que compreende ímãs permanentes posicionados fora do referido invólucro de vácuo, mas produzindo um campo magnético dentro do mesmo;- Uma lente eletrostática variável.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#11.1.1
03/11/2021
RPI 2652
#11.1
17/08/2021
RPI 2641
#3.1
21/11/2018
RPI 2498
#2.1
05/06/2018
RPI 2474
#2.10
Número de Protocolo '870180036299' em 03/05/2018 16:02 (WB)
15/05/2018
RPI 2471
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