MÉTODO IMPLANTADO POR PROCESSADOR PARA MONITORAMENTO DE INTEGRIDADE E IDENTIFICAÇÃO DE CARACTERÍSTICA DE FALHA, SISTEMA DE IDENTIFICAÇÃO DE CARACTERÍSTICA DE FALHA, MONITORAMENTO DE INTEGRIDADE E DETECÇÃO DE FALHA, UMA OU MAIS MÍDIAS DE ARMAZENAMENTO DE INFORMAÇÕES LEGÍVEIS POR MÁQUINA NÃO TRANSITÓRIA
Patente de Invenção MÉTODO IMPLANTADO POR PROCESSADOR PARA MONITORAMENTO DE INTEGRIDADE E IDENTIFICAÇÃO DE CARACTERÍSTICA DE FALHA, SISTEMA DE IDENTIFICAÇÃO DE CARACTERÍSTICA DE FALHA, MONITORAMENTO DE INTEGRIDADE E DETECÇÃO DE FALHA, UMA OU MAIS MÍDIAS DE ARMAZENAMENTO DE INFORMAÇÕES LEGÍVEIS POR MÁQUINA NÃO TRANSITÓRIA de TATA CONSULTANCY SERVICES LIMITED — IPC G01S 19/23. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
Patente concedida em 03/09/2024 e em vigor até 06/03/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:06/03/2038
Última movimentação publicada pelo INPI: 03/09/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Trata-se de um sistema e método para monitoramento de integridade e identificação de característica de falha de um sistema. Em uma modalidade, o sistema estima um Índice de Integridade (HI) do sistema como dados de série temporal. Através da análise dos dados que correspondem ao HI estimado, o sistema identifica uma ou mais janelas de tempo nas quais uma maioria dos valores de HI estimado está baixa como uma janela de baixo HI e uma ou mais janelas de tempo nas quais uma maioria dos valores de HI estimado está alta como uma janela de alto HI. Mediante a identificação de uma janela de baixo HI, o que indica que um comportamento anormal do sistema é monitorado, o sistema, com base em uma Rede Bayesiana local gerada pelo sistema que é monitorado, gera um Índice de Explicabilidade (EI) para cada sensor em que o EI quantifica uma contribuição do sensor para o baixo HI. Além disso, um componente associado (ou componentes associados) é identificado como contribuinte para o comportamento anormal/com falhas do sistema.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 06/03/2018, observadas as condições legais
03/09/2024
RPI 2800
Deferimento
#9.1
25/06/2024
RPI 2790
Parecer de pré-exame
#6.23
16/01/2024
RPI 2767
8.7
12/04/2022
RPI 2675
Arquivamento por falta de pagamento
#8.6
Referente à 4ª anuidade.
04/01/2022
RPI 2661
Publicação do pedido de patente
#3.1
26/03/2019
RPI 2516
Pedido de patente depositado
#2.1
11/09/2018
RPI 2488
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo '870180018216' em 06/03/2018 18:04 (WB)
