Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 13/06/2017, observadas as condições legais
21/10/2025
RPI 2859
Dados do pedido
Número
102017012543Tipo
Depósito
Publicação
Patente concedida em 21/10/2025 e em vigor até 13/06/2037. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:13/06/2037
Última movimentação publicada pelo INPI: 21/10/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
PADTEC S.A
SP, BR
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS - UNICAMP
SP, BR
Inventores
D. M. (pessoa física)
BR
F. B. (pessoa física)
BR
Classificação IPC
Resumo técnico
MÉTODO PARA CARACTERIZAÇÃO DA OCORRÊNCIA DE ESCORREGAMENTOSDE FASE EM RECEPTORES ÓPTICOS A invenção se refere a um método para a caracterização probabilística da ocorrência de escorregamentos de fase em sistemas ópticos coerentes que utilizam algoritmos de recuperação de fase do tipo feedforward e empregam phase unwrapper.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 13/06/2017, observadas as condições legais
21/10/2025
RPI 2859
#9.1
02/09/2025
RPI 2852
#6.1
15/04/2025
RPI 2832
#15.11
A Classificação Anterior era: H04L 1/20
08/04/2025
RPI 2831
Na petição 800200071304 de 02/03/2020 foi solicitado exame, sendo recolhido taxa de exame no valor de R$ 236,00. Entretanto, um dos depositantes não faz jus à taxa com desconto, razão pela qual a taxa de exame deve ser recolhida no valor sem desconto (R$ 590,00).Solicita-se ao depositante que apresente a guia de recolhimento complementando o valor de R$ 352,00 correspondente à diferença entre o valor recolhido e a taxa de exame devida.
13/09/2022
RPI 2697
#3.1
15/01/2019
RPI 2506
#2.1
12/12/2017
RPI 2449
#2.5
12/09/2017
RPI 2436
#2.10
Número de Protocolo '870170040341' em 13/06/2017 09:42 (WB)
27/06/2017
RPI 2425
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