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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE DIAGNÓSTICO DE SIMETRIA RADIAL DO TIPO FLUXO LATERAL, E SISTEMA DE LEITURA DE UM DISPOSITIVO DIAGNÓSTICO DE SIMETRIA RADIAL DO TIPO FLUXO LATERAL.

Arquivada/ExtintaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção DISPOSITIVO DE DIAGNÓSTICO DE SIMETRIA RADIAL DO TIPO FLUXO LATERAL, E SISTEMA DE LEITURA DE UM DISPOSITIVO DIAGNÓSTICO DE SIMETRIA RADIAL DO TIPO FLUXO LATERAL. de Fundação Oswaldo Cruz — IPC C12Q 1/68
Patente de Invenção DISPOSITIVO DE DIAGNÓSTICO DE SIMETRIA RADIAL DO TIPO FLUXO LATERAL, E SISTEMA DE LEITURA DE UM DISPOSITIVO DIAGNÓSTICO DE SIMETRIA RADIAL DO TIPO FLUXO LATERAL. de Fundação Oswaldo Cruz — IPC C12Q 1/68. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102017006004

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/03/2017

Publicação

30/10/2018

Andamento no INPI

  1. Depósito23/03/17
  2. Publicação30/10/18
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 07/05/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Fundação Oswaldo Cruz

RJ, BR

INSTITUTO DE BIOLOGIA MOLECULAR DO PARANÁ - IBMP

PR, BR

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Inventores

C. S. (pessoa física)

BR

L. S. (pessoa física)

BR

L. F. (pessoa física)

BR

L. A. (pessoa física)

BR

M. K. (pessoa física)

BR

R. E. (pessoa física)

BR

W. S. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

A presente invenção provê um dispositivo de diagnóstico de simetria radial do tipo fluxo lateral que compreende uma base (B) e uma tampa (T), que compreende pelo menos uma abertura de entrada de amostra (1) e pelo menos duas janelas de observação (2), e a base (B) compreende pelo menos um elemento de aquisição de amostra (3) e pelo menos dois leitos (5) de tira-teste, em que cada abertura de observação (2) da tampa (T) corresponde a um ou mais leitos (5), e em cada leito (5) pode ser assentada uma ou mais tiras-teste (4), em que a pelo menos um elemento de aquisição de amostra (3) está em comunicação com as pelo menos duas tiras-teste (4).A invenção também provê um sistema de leitura de um dispositivo diagnóstico de simetria radial do tipo fluxo lateral compreendendo os módulos: óptico de aquisição (13) de imagem, de iluminação, de processamento e controle (15), e de armazenamento, sendo que o módulo óptico de aquisição (13)e de imagem é adaptado para realizar a aquisição de uma imagem de um dispositivo diagnóstico de simetria radial do tipo fluxo lateral; e o de processamento e controle (15) é adaptado para gerenciar e extrair informações do sistema.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2767 de 16-01-2024 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

07/05/2024

RPI 2783

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 7ª anuidade.

16/01/2024

RPI 2767

Publicação do pedido de patente

#3.1

30/10/2018

RPI 2495

Pedido de patente depositado

#2.1

16/05/2017

RPI 2419

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870170019418' em 23/03/2017 15:37 (WB)

04/04/2017

RPI 2413

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