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Dado oficial do INPI

MÉTODO, DISPOSITIVO E SISTEMA PARA DETERMINAR A LOCALIZAÇÃO DE FALHA

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO, DISPOSITIVO E SISTEMA PARA DETERMINAR A LOCALIZAÇÃO DE FALHA — IPC G01R 31/02
Patente de Invenção MÉTODO, DISPOSITIVO E SISTEMA PARA DETERMINAR A LOCALIZAÇÃO DE FALHA — IPC G01R 31/02. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102017000639

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/01/2017

Publicação

18/07/2017

Andamento no INPI

  1. Depósito12/01/17
  2. Publicação18/07/17
  3. Exame
  4. Deferimento06/12/22
  5. Concessão28/02/23
  6. Em vigor12/01/37

Patente concedida em 28/02/2023 e em vigor até 12/01/2037. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:12/01/2037

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Depositantes e inventores

Depositantes

S. A. (pessoa física)

DE

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Inventores

A. J. (pessoa física)

DE

C. D. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

16151071.4 · 13/01/2016

Resumo técnico

A invenção se refere a um método para determinar a localização de falha (F) de uma falha em uma linha (11) de uma rede de fornecimento de energia elétrica, na qual primeiros valores de corrente e voltagem são medidos em uma primeira extremidade de linha (11a) da linha (11), segundos valores de corrente e voltagem são medidos em uma segunda extremidade de linha (11b) da linha (11), e a localização de falha (F) da dita falha é definida usando os primeiros e os segundos valores de corrente e voltagem seguindo a ocorrência de uma falha na linha (11). De maneira a ser capaz de realizar uma localização de falha com valores medidos a partir de ambas as extremidades de linha com alta precisão mesmo na ausência de sincronização temporal das medições nas extremidades de linha, é proposto que uma característica dos primeiros valores de voltagem de falha fictícios presentes em uma localização de falha fictícia na linha (11) seja definida usando os primeiros valores de corrente e voltagem, uma característica dos segundos valores de voltagem de falha fictícios presentes em uma localização de falha fictícia na linha (11) é definida usando os segundos valores de corrente e voltagem, uma localização de falha fictícia deste tipo na linha (11) é determinada para a qual a característica dos primeiros valores de voltagem de falha fictícios corresponde de maneira mais próxima com a característica dos segundos valores de voltagem de falha fictícios, e a localização de falha fictícia determinada é usada como a localização de falha (F) da falha na linha (11). A invenção também se refere a um dispositivo configurado de maneira correspondente (15a, 15b) e um sistema para determinar uma localização de falha.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 12/01/2017, observadas as condições legais

28/02/2023

RPI 2721

Deferimento

#9.1

06/12/2022

RPI 2709

Parecer de pré-exame

#6.23

21/06/2022

RPI 2685

Publicação do pedido de patente

#3.1

18/07/2017

RPI 2428

Pedido de patente depositado

#2.1

21/02/2017

RPI 2407

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870170002232' em 12/01/2017 11:10 (WB)

24/01/2017

RPI 2403

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