Patente de Invenção DISPOSITIVO DE CARACTERIZAÇÃO OPTOELETRÔNICA DE MATERIAIS de CONSEJO NACIONAL DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS Y TÉCNICAS - CONICET — IPC C21D 1/773. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
DISPOSITIVO DE CARACTERIZAÇÃO OPTOELETRÔNICA DEMATERIAIS Um dispositivo de caracterização optoeletrônica de materiais que alteram a sua resposta elétrica ou ótica, de acordo com o tempo e a temperatura em atmosferas de diferentes gases, que compreende um cabeçote desmontável constituído por microeletrodos montado dentro de uma câmara de sílica tubular, translúcida à luz visível para permitir a observação da alteração de cor do material sensor; forno retrátil, de montagem rápida com uma janela central, que permite caracterizações em presença da luz de diferentes comprimentos de onda; tampas nos extremos desta câmara de sílica tubular que dispõem de meios para: fechar de modo estanque esta câmara, permitir a circulação de gases, de radiação, e incorporar sensores, sondas e cabos.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI
#11.2
20/06/2023
RPI 2737
Exigência preliminar (variante)
#6.22
07/03/2023
RPI 2722
Publicação do pedido de patente
#3.1
06/06/2017
RPI 2422
Pedido de patente depositado
#2.1
01/03/2017
RPI 2408
Exigência - art. 21 da LPI
#2.5
14/02/2017
RPI 2406
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160072288 em 02/12/2016 02:59(WB).
