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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE ANÁLISE FACIAL PARA CONTROLE DE DISPOSITIVOS

Em AnálisePatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO DE ANÁLISE FACIAL PARA CONTROLE DE DISPOSITIVOS de HOOBOX ROBOTICS TECNOLOGIA DO BRASIL LTDA. - ME — IPC G06F 1/32
Patente de Invenção MÉTODO DE ANÁLISE FACIAL PARA CONTROLE DE DISPOSITIVOS de HOOBOX ROBOTICS TECNOLOGIA DO BRASIL LTDA. - ME — IPC G06F 1/32. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102016027065

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

18/11/2016

Publicação

12/06/2018

Andamento no INPI

Em recurso
  1. Depósito18/11/16
  2. Publicação12/06/18
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

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Última movimentação publicada pelo INPI: 11/06/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

HOOBOX ROBOTICS TECNOLOGIA DO BRASIL LTDA. - ME

BR

UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS - UNICAMP

SP, BR

Inventores

E. C. (pessoa física)

BR

P. P. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Petição de recurso

#12.2

Recurso: 870240045457 - 29/5/2024

11/06/2024

RPI 2788

Indeferimento

#9.2

09/04/2024

RPI 2779

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

14/02/2023

RPI 2719

Exigência preliminar

#6.21

30/08/2022

RPI 2695

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

26/12/2018

RPI 2503

Publicação do pedido de patente

#3.1

12/06/2018

RPI 2475

Pedido de patente depositado

#2.1

06/03/2018

RPI 2461

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

06/02/2018

RPI 2457

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '018160004216' em 18/11/2016 14:55 (SP)

16/01/2018

RPI 2454

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