Patente de Invenção DISPOSITIVOS E MÉTODOS PARA TESTES DE CIRCUITOS INTEGRADOS — IPC G01R 31/26. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 01/06/2016, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
A presente invenção refere-se a um circuito integrado, que inclui uma primeira unidade de energia, uma segunda unidade de energia, e um comutador de seleção. A primeira unidade de energia gera uma primeira tensão de saída e é acoplada a um primeiro pino de carga. O primeiro pino de carga é acoplado a uma primeira carga. A segunda unidade de energia gera uma segunda tensão de saída e é acoplada a um segundo pino de carga. O segundo pino de carga é acoplado a uma segunda carga. O comutador de seleção gera a primeira tensão de saída ou a segunda tensão de saída para um pino de tensão de acordo com um sinal de seleção.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
10/09/2019
RPI 2540
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
25/06/2019
RPI 2529
Retificação de publicação
#3.8
Referente ao Despacho de cód.3.1 publicado na RPI 2400 de 03/01/2017, relativo ao campo INID (51) Classificação Internacional.
27/02/2018
RPI 2460
Publicação do pedido de patente
#3.1
03/01/2017
RPI 2400
Pedido de patente depositado
#2.1
12/07/2016
RPI 2375
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160024822 em 01/06/2016 04:46(WB).
