Alteração de sede deferida
#25.7
11/06/2024
RPI 2788
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Dado oficial do INPI
DISPOSITIVO DE TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS SOBRE UMA PASTILHA DE SILÍCIO, CIRCUITO INTEGRADO E MÉTODOS DE TESTES
Em AnálisePatente de Invenção
Dados do pedido
Número
102016004755Tipo
Patente de Invenção
Depósito
03/03/2016
Publicação
06/09/2016
Andamento no INPI
- Depósito03/03/16
- Publicação06/09/16
- Exame
- Deferimento02/08/22
- Concessão06/09/22
- Em vigor03/03/36
Patente concedida em 06/09/2022 e em vigor até 03/03/2036. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:03/03/2036
Última movimentação publicada pelo INPI: 11/06/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
I. S. (pessoa física)
FR
STARCHIP
FR
Inventores
A. C. (pessoa física)
FR
C. L. (pessoa física)
FR
S. B. (pessoa física)
FR
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
FR
15/51904 · 06/03/2015
Resumo técnico
DISPOSITIVO DE TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS SOBRE UMA PASTILHA DE SíLICIO, CIRCUITO INTEGRADO E MÉTODOS DE TESTES A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste de circuitos integrados sobre um wafer de sílicio, caracterizada porque o dispositivo de teste compreende uma conexão de entrada/saída para teste de um circuito integrado e em que o dispositivo de teste compreende: meio (E71) de transferência de um quadro de dados ao circuito integrado por meio da conexão de entrada/saída, o quadro de dados compreende uma referência temporal para os dados incluídos no quadro de dados, um campo de validação da referência temporal e um campo de dados que compreende pelo menos um comando teste do circuito integrado; meio (E74) de recepção de um quadro de dados por meio da conexão de entrada/saída, os dados no quadro de dados recebido têm uma duração que é um múltiplo da referência temporal.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Alteração de nome deferida
#25.4
28/05/2024
RPI 2786
Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/03/2016, observadas as condições legais
06/09/2022
RPI 2696
Deferimento
#9.1
02/08/2022
RPI 2691
Exigência preliminar
#6.21
07/07/2020
RPI 2583
Notificação de acesso ao patrimônio genético
#6.6.1
14/05/2019
RPI 2523
8.7
07/05/2019
RPI 2522
Arquivamento por falta de pagamento
#8.6
Referente à 3ª anuidade.
06/03/2019
RPI 2513
Publicação do pedido de patente
#3.1
06/09/2016
RPI 2383
Pedido de patente depositado
#2.1
31/05/2016
RPI 2369
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 860160050399 em 03/03/2016 01:12(WB).
15/03/2016
RPI 2358
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