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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA COMPUTAR VÁRIAS FALHAS PROJETADAS DE PRODUTOS QUE TEM MÚLTIPLAS PARTES, SISTEMA PARA COMPUTAR VÁRIAS FALHAS PROJETADAS DE PRODUTOS QUE TEM MÚLTIPLAS PARTES, MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIO, E PROGRAMA DE COMPUTADOR

IndeferidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102015016975

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/07/2015

Publicação

25/04/2017

Andamento no INPI

Em recurso
  1. Depósito15/07/15
  2. Publicação25/04/17
  3. Exame
  4. Indeferido13/12/22
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido pelo INPI em 13/12/2022. A invenção não chegou a ser patenteada.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 13/12/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

TATA CONSULTANCY SERVICES LIMITED

IN

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Inventores

G. S. (pessoa física)

IN

K. S. (pessoa física)

IN

P. A. (pessoa física)

IN

Dados técnicos

Prioridades unionistas

IN

2311/MUM/2014 · 15/07/2014

Resumo técnico

MÉTODO PARA COMPUTAR VÁRIAS FALHAS PROJETADAS DE PRODUTOS QUE TEM MÚLTIPLAS PARTES, SISTEMA PAPA COMPUTAR VÁRIAS FALHAS PROJETADAS DE PRODUTOS QUE TEM MÚLTIPLAS PARTES, MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIO, E PROGRAMA DE COMPUTADOR. Trata-se da estimativa de custos de garantia de produtos que têm múltiplas partes. Em uma implantação, um indicativo de dados de falha de parte de vários ciclos no qual cada uma das partes falha em um primeiro período de tempo predefinido e após o mesmo é determinado. Os dados de sensor e dados de registro de serviço são obtidos para determinar os dados de ocorrência de DTC e dados de observância de DTC. Os dados de ocorrência de DTC e os dados de observância de DTC são indicativos de vários ciclos nos quais cada DTC associados com cada uma das partes ocorre e é observada pela primeira vez no primeiro período de tempo predefinido, respectivamente. Os parâmetros de dependência entre os dados de falha de parte, os dados de ocorrência de DTC e os dados de observância de DTC são identificados com base na rede bayesiana que representa relações probabilísticas entre os dados de falha de parte, os dados de ocorrência de DTC e os dados de observância de DTC. As várias falhas de produtos em um segundo período de tempo predefinido são computadas com base nos parâmetros de dependência para estimar o custo de garantia.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Indeferimento

#9.2

13/12/2022

RPI 2710

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

06/09/2022

RPI 2696

Exigência preliminar

#6.21

28/04/2020

RPI 2573

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

30/10/2018

RPI 2495

Publicação do pedido de patente

#3.1

25/04/2017

RPI 2416

Pedido de patente depositado

#2.1

07/03/2017

RPI 2409

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '018150007832' em 15/07/2015 16:08 (SP)

24/01/2017

RPI 2403

Monitoramento de patentes

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